Bias-dependent degradation of single quantum well on InGaN based light emitting diode

Claudia Casu;Matteo Buffolo;Alessandro Caria;Francesco Piva;Carlo De Santi;Enrico Zanoni;Gaudenzio Meneghesso;Matteo Meneghini
2024
2024
Proceedings of IPFA 2024
2024 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA)
   Progetto Integrato Fotovoltaico ad alta efficienza (Progetto 1.1)
   Ministero dell'Ambiente e della Sicurezza Energetica
04.01 - Contributo in atti di convegno
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