Bias-dependent degradation of single quantum well on InGaN based light emitting diode

Claudia Casu;Matteo Buffolo;Alessandro Caria;Francesco Piva;Carlo De Santi;Enrico Zanoni;Gaudenzio Meneghesso;Matteo Meneghini
2024

2024
Proceedings of IPFA 2024
2024 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA)
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