PIVA, FRANCESCO
PIVA, FRANCESCO
Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione - DEI
Analysis of degradation mechanisms in UVC single QW LEDs through electrical, optical and spectral measurements
2022 Piva, F.; Roccato, N.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Pilati, M.; Susilo, N.; Guttmann, M.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Challenges for highly reliable GaN-based LEDs
2019 Zanoni, E.; De Santi, C.; Trivellin, N.; Renso, N.; Buffolo, M.; Monti, D.; Caria, A.; Piva, F.; Meneghesso, G.; Meneghini, M.
Decrease in the injection efficiency and generation of midgap states in UV-C LEDs: A model based on rate equations
2021 Piva, F.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Deki, M.; Kushimoto, M.; Amano, H.; Tomozawa, H.; Shibata, N.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Deep defects in InGaN LEDs: modeling the impact on the electrical characteristics
2022 Roccato, N; Piva, F; De Santi, C; Brescancin, R; Mukherjee, K; Buffolo, M; Haller, C; Carlin, Jf; Grandjean, N; Vallone, M; Tibaldi, A; Bertazzi, F; Goano, M; Verzellesi, G; Meneghesso, G; Zanoni, E; Meneghini, M
Defect incorporation in In-containing layers and quantum wells: Experimental analysis via deep level profiling and optical spectroscopy
2021 Piva, F.; De Santi, C.; Caria, A.; Haller, C.; Carlin, J. F.; Mosca, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Grandjean, N.; Meneghini, M.
Defects and Reliability of GaN-Based LEDs: Review and Perspectives
2022 Buffolo, M.; Caria, A.; Piva, F.; Roccato, N.; Casu, C.; De Santi, C.; Trivellin, N.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Defects in III-N LEDs: experimental identification and impact on electro-optical characteristics
2022 Buffolo, M; Roccato, N; Piva, F; De Santi, C; Brescancin, R; Casu, C; Caria, A; Mukherjee, K; Haller, C; Carlin, Jf; Grandjean, N; Vallone, M; Tibaldi, A; Bertazzi, F; Goano, M; Verzellesi, G; Mosca, M; Meneghesso, G; Zanoni, E; Meneghini, M
Degradation mechanisms in high power InGaN semiconductor lasers investigated by electrical, optical, spectral and C-DLTS measurements
2020 Piva, F.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Taffarel, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Degradation mechanisms of 1.6 W blue semiconductor lasers: Effect on subthreshold optical power and power spectral density
2020 Piva, F.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Taffarel, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Degradation mechanisms of InGaN visible LEDs and AlGaN UV LEDs
2021 De Santi, C.; Caria, A.; Piva, F.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Degradation processes of 280 nm high power DUV LEDs: Impact on parasitic luminescence
2019 Trivellin, N.; Monti, D.; Piva, F.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Zanoni, E.; Meneghesso, G.; Meneghini, M.
Discriminating the effects of deep-levels in InGaN/GaN LEDs: impact on forward leakage current
2022 Buffolo, M.; Roccato, N.; Piva, F.; De Santi, C.; Haller, C.; Carlin, Jean-François; Grandjean, N.; Vallone, M.; Tibaldic, A.; Bertazzi, F.; Goano, M.; Verzellesi, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
DLTS-based defect analysis in UV-C single QW LEDs during a constant current stress
2022 Piva, F.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Pilati, M.; Roccato, N.; Susilo, N.; Guttmann, M.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Effects of quantum-well indium content on deep defects and reliability of InGaN/GaN light-emitting diodes with under layer
2021 Roccato, N.; Piva, F.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Haller, C.; Carlin, J. -F.; Grandjean, N.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
High-Current Stress of UV-B (In)AlGaN-Based LEDs: Defect-Generation and Diffusion Processes
2019 Monti, D.; De Santi, C.; DA RUOS, Sara; Piva, Francesco; Glaab, J.; Rass, J.; Einfeldt, S.; Mehnke, F.; Enslin, J.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
How does an In-containing underlayer prevent the propagation of defects in InGaN QW LEDs? identification of SRH centers and modeling of trap profile
2021 Piva, F.; De Santi, C.; Caria, A.; Buffolo, M.; Haller, C.; Carlin, J. -F.; Mosca, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Grandjean, N.; Meneghini, M.
III-N optoelectronics: defects, reliability and challenges
2022 Meneghini, M.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Caria, A.; Piva, F.; Casu, C.; Roccato, N.; Carlin, J. F.; Grandjean, N.; Tibaldi, A.; Bertazzi, F.; Goano, M.; Verzellesi, G.; Trivellin, N.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
Modeling of TAT-related forward leakage current in InGaN/GaN SQW LEDs based on experimentally-determined defects parameters
2022 Buffolo, M.; Roccato, N.; Piva, Francesco; DE SANTI, Carlo; Haller, C.; Carlin, J. -F.; Grandjean, N.; Tibaldi, A.; Bertazzi, F.; Goano, M.; Verzellesi, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Modeling the degradation mechanisms of AlGaN-based UV-C LEDs: From injection efficiency to mid-gap state generation
2020 Piva, F.; DE SANTI, C.; Deki, M.; Kushimoto, M.; Amano, H.; Tomozawa, H.; Shibata, N.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Modeling the electrical characteristic of InGaN/GaN blue-violet LED structure under electrical stress
2022 Roccato, N; Piva, F; De Santi, C; Buffolo, M; Haller, C; Carlin, Jf; Grandjean, N; Vallone, M; Tibaldi, A; Bertazzi, F; Goano, M; Verzellesi, G; Meneghesso, G; Zanoni, E; Meneghini, M