PIVA, FRANCESCO
PIVA, FRANCESCO
Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione - DEI
Advanced defect spectroscopy in wide-bandgap semiconductors: review and recent results
2024 Fregolent, Manuel; Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Santi, Carlo De; Cester, Andrea; Higashiwaki, Masataka; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Ageing effects on optical power characteristics and defects in SQW UV-C LEDs
2024 Piva, F.; Buffolo, M.; Pilati, M.; Roccato, N.; Longato, S.; Susilo, N.; Hauer Vidal, D.; Muhin, A.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Analysis of degradation mechanisms in UVC single QW LEDs through electrical, optical and spectral measurements
2022 Piva, F.; Roccato, N.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Pilati, M.; Susilo, N.; Guttmann, M.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Antimony selenide solar cells: non-ideal deep level response and study of trap-filling transients
2024 De Santi, Carlo; Barrantes, Jessica Jazmine Nicole; Piva, Francesco; Caria, Alessandro; Buffolo, Matteo; Trivellin, Nicola; Rampino, Stefano; Spaggiari, Giulia; Jakomin, Roberto; Pattini, Francesco; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Bias-dependent degradation of single quantum well on InGaN-based light emitting diode
2023 Casu, C.; Buffolo, M.; Caria, A.; Piva, F.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Catastrophic degradation of LEDs: failure analysis and perspective
2024 Trivellin, N.; Caria, A.; Huang, A.; Piva, F.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Magnien, J.; Rosc, J.; Mura, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Challenges for highly reliable GaN-based LEDs
2019 Zanoni, E.; De Santi, C.; Trivellin, N.; Renso, N.; Buffolo, M.; Monti, D.; Caria, A.; Piva, F.; Meneghesso, G.; Meneghini, M.
Characterization and C-DLTS analysis of antimony selenide solar cells
2023 Barrantes, JESSICA JAZMINE NICOLE; DE SANTI, Carlo; Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Caria, Alessandro; Trivellin, Nicola; Rampino, Stefano; Spaggiari, Giulia; Jakomin, Roberto; Pattini, Francesco; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Decrease in the injection efficiency and generation of midgap states in UV-C LEDs: A model based on rate equations
2021 Piva, F.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Deki, M.; Kushimoto, M.; Amano, H.; Tomozawa, H.; Shibata, N.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Deep defects in InGaN LEDs: modeling the impact on the electrical characteristics
2022 Roccato, N; Piva, F; De Santi, C; Brescancin, R; Mukherjee, K; Buffolo, M; Haller, C; Carlin, Jf; Grandjean, N; Vallone, M; Tibaldi, A; Bertazzi, F; Goano, M; Verzellesi, G; Meneghesso, G; Zanoni, E; Meneghini, M
Defect incorporation in In-containing layers and quantum wells: Experimental analysis via deep level profiling and optical spectroscopy
2021 Piva, F.; De Santi, C.; Caria, A.; Haller, C.; Carlin, J. F.; Mosca, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Grandjean, N.; Meneghini, M.
Defects and Reliability of GaN-Based LEDs: Review and Perspectives
2022 Buffolo, M.; Caria, A.; Piva, F.; Roccato, N.; Casu, C.; De Santi, C.; Trivellin, N.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Defects in III-N LEDs: experimental identification and impact on electro-optical characteristics
2022 Buffolo, M; Roccato, N; Piva, F; De Santi, C; Brescancin, R; Casu, C; Caria, A; Mukherjee, K; Haller, C; Carlin, Jf; Grandjean, N; Vallone, M; Tibaldi, A; Bertazzi, F; Goano, M; Verzellesi, G; Mosca, M; Meneghesso, G; Zanoni, E; Meneghini, M
Defects, performance, and reliability in UVC LEDs
2024 Meneghini, Matteo; Roccato, Nicola; Piva, Francesco; Pilati, Marco; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Susilo, Norman; Hauer Vidal, David; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Ruschel, Jan; Glaab, Johannes; Rass, Jens; Einfeldt, Sven; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Degradation mechanisms in high power InGaN semiconductor lasers investigated by electrical, optical, spectral and C-DLTS measurements
2020 Piva, F.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Taffarel, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Degradation mechanisms of 1.6 W blue semiconductor lasers: Effect on subthreshold optical power and power spectral density
2020 Piva, F.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Taffarel, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Degradation mechanisms of InGaN visible LEDs and AlGaN UV LEDs
2021 De Santi, C.; Caria, A.; Piva, F.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Degradation of AlGaN-based SQW UV-C LEDs investigated by capacitance deep level transient spectroscopy
2023 Piva, F.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Pilati, M.; Roccato, N.; Muhin, A.; Susilo, N.; Vidal, D. H.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Degradation of AlGaN-based UV-C SQW LEDs analyzed by means of capacitance deep-level transient spectroscopy and numerical simulations
2023 Piva, F.; Pilati, M.; Buffolo, M.; Roccato, N.; Susilo, N.; Hauer Vidal, D.; Muhin, A.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Degradation Physics of UV LEDs: from experimental data to models
2024 Meneghini, Matteo; Roccato, Nicola; Piva, Francesco; Pilati, Marco; DE SANTI, Carlo; Buffolo, Matteo; Susilo, Norman; Hauer Vidal, David; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Ruschel, Jan; Glaab, Johannes; Rass, Jens; Einfeldt, Sven; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Trivellin, Nicola; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico