BRUSATERRA, ENRICO
BRUSATERRA, ENRICO
Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione - DEI
Systematic analysis of the trapping and reliability of Al2O3/GaN MOS capacitors with different atomic layer deposition techniques
2025 Fregolent, Manuel; Tomasi, Marco; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Tadmor, Liad; Brusaterra, Enrico; Treidel, Eldad Bahat; Cester, Andrea; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Vertical GaN Devices: Reliability Challenges and Lessons Learned from Si and SiC
2024 Meneghini, M.; Fregolent, M.; Zagni, N.; Hamadoui, Y.; Marcuzzi, A.; Favero, D.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Tomasi, M.; Zappala, G.; Bahat-Treidel, E.; Brusaterra, E.; Brunner, F.; Hilt, O.; Huber, C.; Medjdoub, F.; Meneghesso, G.; Verzellesi, G.; Pavan, P.; Zanoni, E.
Correlating Interface and Border Traps With Distinctive Features of C–V Curves in Vertical Al2O3/GaN MOS Capacitors
2023 Zagni, Nicolò; Fregolent, Manuel; Verzellesi, Giovanni; Marcuzzi, Alberto; Santi, Carlo De; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Treidel, Eldad Bahat; Brusaterra, Enrico; Brunner, Frank; Hilt, Oliver; Meneghini, Matteo; Pavan, Paolo