RicercaInizia una nuova ricerca

NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.

cerca in
Risultati 591 - 594 di 594 (tempo di esecuzione: 0.274 secondi).
Titolo Data di pubblicazione Autori Rivista Serie Titolo libro
UV LED reliability: degradation mechanisms and challenges 2022 Meneghini, MPiva, FDe Santi, CTrivellin, NBuffolo, MRoccato, NFiorimonte, DMeneghesso, GZanoni, E + - PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING Proceedings Volume 12001, Gallium Nitride Materials and Devices XVII
Vertical stack reliability of GaN-on-Si buffers for low-voltage applications 2021 Meneghini M.Meneghesso G.Zanoni E. + - IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM PROCEEDINGS IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings
White light source based on GaN laser diode 2017 N. TrivellinM. BuffoloM. MeneghiniE. ZanoniG. Meneghesso - - Proceedings of the 41th WOCSDICE - Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits 2017
White-light sources based on GaN laser diodes: Analysis and application study 2018 Trivellin, NicolaYUSHCHENKO, MAKSYMBuffolo, MatteoMeneghini, MatteoMeneghesso, GaudenzioZanoni, Enrico PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Risultati 591 - 594 di 594 (tempo di esecuzione: 0.274 secondi).
↑ Back to top
Legenda icone

  •  file ad accesso aperto
  •  file disponibili sulla rete interna
  •  file disponibili agli utenti autorizzati
  •  file disponibili solo agli amministratori
  •  file sotto embargo
  •  nessun file disponibile

Aggiungere filtri:  
Aggiungi
Opzioni
Scopri
Tipologia
  • 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO 594
  • 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO... 570
  • 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO... 24
Autore
  • MENEGHESSO, GAUDENZIO 548
  • MENEGHINI, MATTEO 418
  • DE SANTI, CARLO 197
  • TRIVELLIN, NICOLA 92
  • BUFFOLO, MATTEO 82
  • RAMPAZZO, FABIANA 81
  • STOCCO, ANTONIO 50
  • TAZZOLI, AUGUSTO 35
  • BISI, DAVIDE 32
  • CARIA, ALESSANDRO 31
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 103
  • 2010 - 2019 290
  • 2000 - 2009 133
  • 1990 - 1999 54
  • 1981 - 1989 14
Editore
  • SPIE 32
  • Institute of Electrical and Elect... 29
  • IEEE 21
  • SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING 18
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 7
  • IEEE Institute of Electrical and ... 4
  • Gaudenzio Meneghesso 3
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 3
  • Institute of Physics Publishing 3
  • EDITRICE COMPOSITORI BOLOGNA 2
Rivista
  • PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 9
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 5
  • INSTITUTE OF PHYSICS CONFERENCE S... 3
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 3
  • AIP CONFERENCE PROCEEDINGS 2
  • IEEE MTT-S INTERNATIONAL MICROWAV... 1
  • PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL ... 1
Serie
  • PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 32
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 18
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 3
  • PROCEEDINGS OF THE ... INTERNATIO... 1
Keyword
  • reliability 143
  • HEMT 137
  • Gallium Nitride 129
  • degradation 127
  • light emitting diodes 64
  • Charge Trapping 61
  • InGaN 50
  • Gallium Arsenide 24
  • Reliability 20
  • Electrical and Electronic Enginee... 18
Lingua
  • eng 566
  • ita 11
Accesso al fulltext
  • no fulltext 594