Role of deep levels and time-dependent breakdown effects in determining performances and reliability of power GaN devices

Enrico Zanoni;Alessandro Barbato;Davide Bisi;Carlo De Santi;Isabella Rossetto;Maria Ruzzarin;Nicola Trivellin;Alessandro Chini;Gaudenzio Meneghesso;Matteo Meneghini
2017
2017
Proceedings of the 9th International Symposium on Advanced Plasma Science and its Applications for Nitrides and Nanomaterials (ISPlasma2017)
04.01 - Contributo in atti di convegno
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