III-N optical devices: physical processes limiting efficiency and reliability

M. Meneghini;C. De Santi;M. Buffolo;A. Caria;F. Piva;C. Casu;N. Roccato;N. Trivellin;G. Meneghesso;E. Zanoni
2022
2022
Proceedings of the 8th International Symposium on Advanced Science and Technology of Silicon Materials (JSPS 2022)
04.01 - Contributo in atti di convegno
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