PILATI, MARCO
PILATI, MARCO
Università di Padova
Ageing effects on optical power characteristics and defects in SQW UV-C LEDs
2024 Piva, F.; Buffolo, M.; Pilati, M.; Roccato, N.; Longato, S.; Susilo, N.; Hauer Vidal, D.; Muhin, A.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Defects, performance, and reliability in UVC LEDs
2024 Meneghini, Matteo; Roccato, Nicola; Piva, Francesco; Pilati, Marco; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Susilo, Norman; Hauer Vidal, David; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Ruschel, Jan; Glaab, Johannes; Rass, Jens; Einfeldt, Sven; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Degradation Physics of UV LEDs: from experimental data to models
2024 Meneghini, Matteo; Roccato, Nicola; Piva, Francesco; Pilati, Marco; DE SANTI, Carlo; Buffolo, Matteo; Susilo, Norman; Hauer Vidal, David; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Ruschel, Jan; Glaab, Johannes; Rass, Jens; Einfeldt, Sven; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Trivellin, Nicola; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Investigation of degradation dynamics of 265 nm LEDs assisted by EL measurements and numerical simulations
2024 Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Roccato, Nicola; Pilati, Marco; Longato, Simone; Susilo, Norman; Vidal, Daniel Hauer; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Santi, Carlo De; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Optical Power Degradation Related to Turn-On in Commercial 265 nm UV-C LEDs
2024 Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Pilati, Marco; Roccato, Nicola; Garato, Marco; DE SANTI, Carlo; Trivellin, Nicola; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Degradation of AlGaN-based SQW UV-C LEDs investigated by capacitance deep level transient spectroscopy
2023 Piva, F.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Pilati, M.; Roccato, N.; Muhin, A.; Susilo, N.; Vidal, D. H.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Degradation of AlGaN-based UV-C SQW LEDs analyzed by means of capacitance deep-level transient spectroscopy and numerical simulations
2023 Piva, F.; Pilati, M.; Buffolo, M.; Roccato, N.; Susilo, N.; Hauer Vidal, D.; Muhin, A.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Impact of high-temperature operating lifetime tests on the stability of 0.15 μm AlGaN/GaN HEMTs: a temperature-dependent analysis
2023 Pilati, M.; Buffolo, M.; Rampazzo, F.; Lambert, B.; Sommer, D.; Grünenpütt, J.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Lifetime limiting degradation mechanisms of state-of-the-art UVC LEDs
2023 Zanoni, Enrico; Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Trivellin, Nicola; DE SANTI, Carlo; Roccato, Nicola; Pilati, Marco; Susilo, Norman; Hauer Vidal, David; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo
Modeling the electrical degradation of AlGaN-based UV-C LEDs by combined deep-level optical spectroscopy and TCAD simulations
2023 Roccato, N.; Piva, F.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Fregolent, M.; Pilati, M.; Susilo, N.; Vidal, D. H.; Muhin, A.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
On the degradation mechanisms of state-of-the-art UV-C LEDs
2023 Buffolo, Matteo; Piva, Francesco; Roccato, Nicola; DE SANTI, Carlo; Trivellin, Nicola; Pilati, Marco; Susilo, Norman; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
UV LEDs: defects and physics of degradation
2023 Meneghini, M.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Piva, F.; Roccato, N.; Pilati, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Hauer Vidal, D.; Guttmann, M.; Susilo, N.; Muhin, A.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Ruschel, J.; Glaab, J.; Rass, J.; Einfeldt, S.; Kneissl, M.
Analysis of degradation mechanisms in UVC single QW LEDs through electrical, optical and spectral measurements
2022 Piva, F.; Roccato, N.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Pilati, M.; Susilo, N.; Guttmann, M.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
DLTS-based defect analysis in UV-C single QW LEDs during a constant current stress
2022 Piva, F.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Pilati, M.; Roccato, N.; Susilo, N.; Guttmann, M.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.