BOITO, MIRCO
BOITO, MIRCO
Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione - DEI
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Isolation properties and failure mechanisms of vertical Pt / n-GaN SBDs
2022 Fregolent, M; Boito, M; Marcuzzi, A; De Santi, C; Chiocchetta, F; Treidel, Eb; Wolf, M; Brunner, F; Hilt, O; Wurfl, J; Meneghesso, G; Zanoni, E; Meneghini, M
Negative Activation Energy of Gate Reliability in Schottky-Gate p-GaN HEMTs: Combined Gate Leakage Current Modeling and Spectral Electroluminescence Investigation
2024 Fregolent, Manuel; Boito, Mirco; Disarò, Michele; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Canato, Eleonora; Gallo, Michele; Miccoli, Cristina; Rossetto, Isabella; Pizzo, Giansalvo; Russo, Alfio; Iucolano, Ferdinando; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo