BOITO, MIRCO
BOITO, MIRCO
Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione - DEI
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Titolo | Data di pubblicazione | Autori | Rivista | Serie | Titolo libro |
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Isolation properties and failure mechanisms of vertical Pt / n-GaN SBDs | 2022 | Fregolent, MBoito, MMarcuzzi, ADe Santi, CMeneghesso, GZanoni, EMeneghini, M + | MICROELECTRONICS RELIABILITY | - | - |