Reliability Issues in Lateral and Vertical GaN FETs for Power Electronics

G. Meneghesso;M. Meneghini;C. De Santi;A. Barbato;M. Barbato;M. Borga;E. Canato;E. Fabris;F. Masin;M. Ruzzarin;A. Tajalli;E. Zanoni
2018
2018
Proceedings of the 2018 International Workshop on Nitride Semiconductors (IWN 2018)
04.01 - Contributo in atti di convegno
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