Padua Research Archive, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Università degli Studi di Padova, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ateneo. Padua Research Archive utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

MASIN, FABRIZIO

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	Titolo	Data di pubblicazione	Autori	Rivista	Serie	Titolo libro
411	Degradation physics of GaN-based lateral and vertical devices	2019	MENEGHINI, MATTEO ; DE SANTI, CARLO ; BARBATO, ALESSANDRO ; BORGA, MATTEO ; CANATO, ELEONORA ; CHIOCCHETTA, FRANCESCA ; FABRIS, ELENA ; MASIN, FABRIZIO ; NARDO, ARIANNA ; RAMPAZZO, FABIANA ; RUZZARIN, MARIA ; TAJALLI, ALALEH ; BARBATO, MARCO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; ZANONI, ENRICO		PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING	Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
412	Range Evaluation of Threshold Voltage Instabilities of GaN-on-Si HEMTs with p-GaN Gate	2019	CANATO, ELEONORA ; MASIN, FABRIZIO ; BORGA, MATTEO ; ZANONI, ENRICO ; MENEGHINI, MATTEO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; Stockman A.; Banerjee A.; Moens P.		IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM PROCEEDINGS	IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings
413	Positive temperature dependence of time-dependent breakdown of GaN-on-Si E-mode HEMTs under positive gate stress	2019	MASIN, FABRIZIO ; MENEGHINI, MATTEO ; CANATO, ELEONORA ; DE SANTI, CARLO ; Stockman A.; ZANONI, ENRICO ; Moens P.; MENEGHESSO, GAUDENZIO	APPLIED PHYSICS LETTERS
414	Conduction mechanisms in p-Gate AlGaN/GaN high-electron-mobility transistors	2018	A. Stockman; MASIN, FABRIZIO ; MENEGHINI, MATTEO ; P. Moens; B. Bakeroot			Proceedings of the GaN Marathon 2.0
415	Reliability Issues in Lateral and Vertical GaN FETs for Power Electronics	2018	MENEGHESSO, GAUDENZIO ; MENEGHINI, MATTEO ; DE SANTI, CARLO ; BARBATO, ALESSANDRO ; BARBATO, MARCO ; BORGA, MATTEO ; CANATO, ELEONORA ; FABRIS, ELENA ; MASIN, FABRIZIO ; RUZZARIN, MARIA ; TAJALLI, ALALEH ; ZANONI, ENRICO			Proceedings of the 2018 International Workshop on Nitride Semiconductors (IWN 2018)
416	Gate Conduction Mechanisms and Lifetime Modeling of p-Gate AlGaN/GaN High-Electron-Mobility Transistors	2018	Stockman, Arno; MASIN, FABRIZIO ; MENEGHINI, MATTEO ; ZANONI, ENRICO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; Bakeroot, Benoit; Moens, Peter	IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES

Dettaglio

Nome completo:

MASIN, FABRIZIO

struttura:

Università di Padova