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Titolo Data di pubblicazione Autori Rivista Serie Titolo libro
Acceleration of Microwelding on Ohmic RF-MEMS Switches 2011 TAZZOLI, AUGUSTOMENEGHESSO, GAUDENZIO JOURNAL OF MICROELECTROMECHANICAL SYSTEMS - -
Active Recovering Mechanism for High Performance RF MEMS Redundancy Switches 2010 TAZZOLI, AUGUSTOMENEGHESSO, GAUDENZIO + - - EuMIC 2010, European Microwave Week
Adaptive multi-wavelength LED star simulator for space life studies 2016 TRIVELLIN, NICOLABARBISAN, DIEGOFERRETTI, MARCOERCULIANI, MARCOCLAUDI, RICCARDOCOCOLA, LORENZOPOLETTO, LUCAMENEGHINI, MATTEOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + - - Proc. SPIE 9768, Light-Emitting Diodes: Materials, Devices, and Applications for Solid State Lighting XX
Addressing the electrical degradation of 845 nm micro-transfer printed VCSILs through TCAD simulations 2023 Zenari, M.Buffolo, M.De Santi, C.Meneghesso, G.Zanoni, E.Meneghini, M. + - - Proceedings of 2023 International Conference on Numerical Simulation of Optoelectronic Devices (NUSOD)
Addressing the Optical Degradation of 1.3 μm Quantum Dot Lasers through Subthreshold Characterization 2023 Zenari, MicheleBuffolo, MatteoDe Santi, CarloMeneghesso, GaudenzioZanoni, EnricoMeneghini, Matteo + ACS PHOTONICS - -
Ageing mechanisms of 420nm GaN HBLED 2010 TRIVELLIN, NICOLAMENEGHINI, MATTEOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + - - International Workshop on Nitride Semiconductors - IWN2010
Ageing of InGaN-based LEDs: Effects on internal quantum efficiency and role of defects 2015 LA GRASSA, MARCOMENEGHINI, MATTEODE SANTI, CARLOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + MICROELECTRONICS RELIABILITY - -
Aging behavior, reliability, and failure physics of GaN-based optoelectronic components 2016 ZANONI, ENRICOMENEGHINI, MATTEOMENEGHESSO, GAUDENZIODE SANTI, CARLOLA GRASSA, MARCOBUFFOLO, MATTEOTRIVELLIN, NICOLAMONTI, DESIREE - - Proc. SPIE 9768, Light-Emitting Diodes: Materials, Devices, and Applications for Solid State Lighting XX
Al2O3 Surface Passivation Characterized on Hydrophobic and Hydrophilic Si by Combination of QSSPC, CV and FTIR 2012 MENEGHESSO, GAUDENZIO + - - -
Al2O3 Surface Passivation Characterized on Hydrophobic and Hydrophilic c-Si by a Combination of QSSPC, CV, XPS and FTIR 2012 MENEGHESSO, GAUDENZIO + ENERGY PROCEDIA - -
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  • 06 CURATELA 1
  • 06 CURATELA::06.01 - Curatela 1
Autore
  • ZANONI, ENRICO 968
  • MENEGHINI, MATTEO 771
  • DE SANTI, CARLO 373
  • BUFFOLO, MATTEO 157
  • TRIVELLIN, NICOLA 147
  • RAMPAZZO, FABIANA 120
  • TAZZOLI, AUGUSTO 96
  • CESTER, ANDREA 72
  • STOCCO, ANTONIO 70
  • BARBATO, MARCO 64
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2024 244
  • 2010 - 2019 623
  • 2000 - 2009 285
  • 1992 - 1999 71
Editore
  • Institute of Electrical and Elect... 83
  • Elsevier Ltd 64
  • SPIE 33
  • IEEE / Institute of Electrical an... 31
  • IEEE 29
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 28
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 21
  • Elsevier 20
  • SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING 18
  • ELSEVIER 17
Rivista
  • MICROELECTRONICS RELIABILITY 149
  • IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEV... 77
  • IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS 35
  • APPLIED PHYSICS LETTERS 29
  • IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND M... 22
  • JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 15
  • PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 10
  • JOURNAL OF PHYSICS D. APPLIED PHY... 9
  • MATERIALS 9
  • IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE 8
Serie
  • PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 32
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 20
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 4
  • PROCEEDINGS OF THE ... INTERNATIO... 1
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 1
  • PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL ... 1
Keyword
  • reliability 274
  • HEMT 257
  • degradation 236
  • Gallium Nitride 221
  • light emitting diodes 92
  • InGaN 91
  • GaN 87
  • Charge Trapping 85
  • Reliability 74
  • Electrical and Electronic Enginee... 64
Lingua
  • eng 1188
  • ita 12
  • jpn 1
Accesso al fulltext
  • no fulltext 1205
  • open 17
  • reserved 1