Padua Research Archive, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Università degli Studi di Padova, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ateneo. Padua Research Archive utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

TAZZOLI, AUGUSTO

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	Titolo	Data di pubblicazione	Autori	Rivista	Titolo libro
1	Traps characterization in Si-doped GaN/AlGaN/GaN HEMT on SiC by means of low frequency techniques	2005	SOZZA, ALBERTO ; C. DUA; N. SARAZIN; E. MORVAN; S. L. DELAGE; RAMPAZZO, FABIANA ; TAZZOLI, AUGUSTO ; DANESIN, FRANCESCA ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; ZANONI, ENRICO ; A. CURUTCHET; N. MALBERT; N. LABAT
2	Trap related instabilities and localized damages induced by reverse bias”	2009	ZANONI, ENRICO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; RAMPAZZO, FABIANA ; MENEGHINI, MATTEO ; TAZZOLI, AUGUSTO ; DANESIN, FRANCESCA ; ZANON, FRANCO ; RONCHI, NICOLO' ; STOCCO, ANTONIO
3	Transmission line pulse (TLP) testing of radio frequency (RF) micro-machined micro-electromechanical systems (MEMS) switches	2006	TAZZOLI, AUGUSTO ; PERETTI, VANNI ; ZANONI, ENRICO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO
4	Time-To-Latch-Up investigation of SCR devices as ESD protection structures on 65 nm technology platform	2010	TAZZOLI, AUGUSTO ; CORDONI M; COLOMBO P; BERGONZONI C; MENEGHESSO, GAUDENZIO	MICROELECTRONICS RELIABILITY
5	Threshold Voltage Instability in Organic TFT with SiO2 and SiO2/Parylene-Stack Dielectrics	2009	WRACHIEN, NICOLA ; CESTER, ANDREA ; PINATO, ALESSANDRO ; MENEGHINI, MATTEO ; TAZZOLI, AUGUSTO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; J. KOVAC; J. JAKABOVIC; D. DONOVAL
6	Three terminal Breakdown evaluation in GaN-HEMT	2009	TAZZOLI, AUGUSTO ; ZANONI, ENRICO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO
7	Thermal storage effects on AlGaN/GaN HEMT	2008	DANESIN, FRANCESCA ; TAZZOLI, AUGUSTO ; ZANON, FRANCO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; ZANONI, ENRICO ; CETRONIO A; LANZIED C; LAVANGA S; PERONI M; ROMANINI P.	MICROELECTRONICS RELIABILITY
8	Suspensions Shape Impact on the Reliability of RF-MEMS Redundancy Switches	2008	TAZZOLI, AUGUSTO ; PERETTI, VANNI ; AUTIZI, ENRICO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO
9	Study of the actuation speed, bounces occurrences, and contact reliability of ohmic RF-MEMS switches	2010	TAZZOLI, AUGUSTO ; BARBATO, MARCO ; MATTIUZZO F; RITROVATO V; MENEGHESSO, GAUDENZIO	MICROELECTRONICS RELIABILITY
10	Stiction Induced by Dielectric Breakdown on rf-MEMS Switches	2008	TAZZOLI, AUGUSTO ; AUTIZI, ENRICO ; PERETTI, VANNI ; MENEGHESSO, GAUDENZIO
11	Soft and Hard Failures of InGaN-Based LEDs Submitted to Electrostatic Discharge Testing	2010	MENEGHINI, MATTEO ; TAZZOLI, AUGUSTO ; BUTENDEICH R; HAHN B; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; ZANONI, ENRICO	IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
12	RF-MEMS Switches Reliability for Long Term Spatial Applications	2007	TAZZOLI, AUGUSTO ; PERETTI, VANNI ; CELLERE, GIORGIO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO
13	Reverse-bias and ESD instabilities of InGaN-based LEDs	2010	MENEGHINI, MATTEO ; TAZZOLI, AUGUSTO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; ZANONI, ENRICO		Proc. of WOCSDICE 2010, 34th Workshop on Compound semiconductors and integrated circuits
14	Reverse gate bias stress induced degradation of GaN HEMT	2009	ZANONI, ENRICO ; MENEGHINI, MATTEO ; TAZZOLI, AUGUSTO ; RONCHI, NICOLO' ; STOCCO, ANTONIO ; V. DI LECCE; M. ESPOSTO; A. CHINI; MENEGHESSO, GAUDENZIO
15	Resistive RF-MEMS Switches Characterization and Reliability	2005	TAZZOLI, AUGUSTO ; A. GNUDI; R. GADDI; PERETTI, VANNI ; ZANONI, ENRICO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO
16	Reliability of RF-MEMS for high frequency applications	2009	MENEGHESSO, GAUDENZIO ; TAZZOLI, AUGUSTO
17	Reliability of RF-MEMS	2005	R. GADDI; A. GNUDI; TAZZOLI, AUGUSTO ; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; ZANONI, ENRICO
18	Reliability of GaN high-electron-mobility transistors: State of the art and perspectives	2008	MENEGHESSO, GAUDENZIO ; VERZELLESI G; DANESIN, FRANCESCA ; RAMPAZZO, FABIANA ; ZANON, FRANCO ; TAZZOLI, AUGUSTO ; MENEGHINI, MATTEO ; ZANONI, ENRICO	IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY
19	Reliability Issues of GaN-Based High Electron Mobility Transistors	2009	MENEGHESSO, GAUDENZIO ; MENEGHINI, MATTEO ; TAZZOLI, AUGUSTO ; ZANONI, ENRICO
20	Reliability issues of Gallium Nitride High Electron Mobility Transistors	2010	MENEGHESSO, GAUDENZIO ; MENEGHINI, MATTEO ; TAZZOLI, AUGUSTO ; RONCHI, NICOLO' ; STOCCO, ANTONIO ; A. CHINI; ZANONI, ENRICO	INTERNATIONAL JOURNAL OF MICROWAVE AND WIRELESS TECHNOLOGIES

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Nome completo:

TAZZOLI, AUGUSTO