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Titolo Data di pubblicazione Autori Rivista Serie Titolo libro
A physical-based equivalent circuit model for an organic/electrolyte interface 2016 LAGO, NICOLO'CESTER, ANDREAWRACHIEN, NICOLABARBATO, MARCORIZZO, ANTONIOMENEGHESSO, GAUDENZIO + ORGANIC ELECTRONICS - -
A Physics-Based Approach to Model Hot-Electron Trapping Kinetics in p-GaN HEMTs 2021 Modolo N.De Santi C.Meneghesso G.Zanoni E.Meneghini M. + IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS - -
A physics-based, accurate spice model of impact-ionization effects in bipolar transistors 1994 ZANONI, ENRICOMENEGHESSO, GAUDENZIO + - - -
A Positive Exploitation of ESD Events: Micro-welding Induction on Ohmic MEMS Contacts 2011 TAZZOLI, AUGUSTOMENEGHESSO, GAUDENZIO + - - 33rd Annual EOS/ESD Symposium, EOSESD2011
A review of failure modes and mechanisms of GaN-based HEMT's 2007 ZANONI, ENRICOMENEGHESSO, GAUDENZIODANESIN, FRANCESCAMENEGHINI, MATTEORAMPAZZO, FABIANATAZZOLI, AUGUSTOZANON, FRANCO + - - -
A Review of SiC Commercial Devices for Automotive: Properties and Challenges 2023 Alberto MarcuzziDavide FaveroCarlo De SantiGaudenzio MeneghessoEnrico ZanoniMatteo Meneghini - - Proceedings of the 7th AEIT International Conference of Electrical and Electronic Technologies for Automotive (AEIT AUTOMOTIVE 2023)
A Review of the Main Results Presented at the 49th Workshop on Compound Semiconductor Materials And Devices 2013 MENEGHESSO, GAUDENZIO + - - 37th Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits held in Europe (WOCSDICE 2013)
A review of the reliability of integrated ir laser diodes for silicon photonics 2021 Buffolo M.De Santi C.Meneghesso G.Zanoni E.Meneghini M. + ELECTRONICS - -
A Review on the Physical Mechanisms That Limit the Reliability of GaN-Based LEDs 2010 MENEGHINI, MATTEOTAZZOLI, AUGUSTOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES - -
A Review on the Reliability of GaN-based Laser Diodes 2010 TRIVELLIN, NICOLAMENEGHINI, MATTEOZANONI, ENRICOMENEGHESSO, GAUDENZIO + - - IRPS2010, International Reliability Physics Symposium
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Tipologia
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  • 03 LIBRO::03.01 - Monografia o tr... 1
  • 06 CURATELA 1
  • 06 CURATELA::06.01 - Curatela 1
Autore
  • ZANONI, ENRICO 968
  • MENEGHINI, MATTEO 771
  • DE SANTI, CARLO 373
  • BUFFOLO, MATTEO 157
  • TRIVELLIN, NICOLA 147
  • RAMPAZZO, FABIANA 120
  • TAZZOLI, AUGUSTO 96
  • CESTER, ANDREA 72
  • STOCCO, ANTONIO 70
  • BARBATO, MARCO 64
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2024 244
  • 2010 - 2019 623
  • 2000 - 2009 285
  • 1992 - 1999 71
Editore
  • Institute of Electrical and Elect... 83
  • Elsevier Ltd 64
  • SPIE 33
  • IEEE / Institute of Electrical an... 31
  • IEEE 29
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 28
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 21
  • Elsevier 20
  • SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING 18
  • ELSEVIER 17
Rivista
  • MICROELECTRONICS RELIABILITY 149
  • IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEV... 77
  • IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS 35
  • APPLIED PHYSICS LETTERS 29
  • IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND M... 22
  • JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 15
  • PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 10
  • JOURNAL OF PHYSICS D. APPLIED PHY... 9
  • MATERIALS 9
  • IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE 8
Serie
  • PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 32
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 20
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 4
  • PROCEEDINGS OF THE ... INTERNATIO... 1
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 1
  • PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL ... 1
Keyword
  • reliability 274
  • HEMT 257
  • degradation 236
  • Gallium Nitride 221
  • light emitting diodes 92
  • InGaN 91
  • GaN 87
  • Charge Trapping 85
  • Reliability 74
  • Electrical and Electronic Enginee... 64
Lingua
  • eng 1188
  • ita 12
  • jpn 1
Accesso al fulltext
  • no fulltext 1205
  • open 17
  • reserved 1