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Space and terrestrial radiation effects in flash memories
2017 Bagatin, Marta; Gerardin, Simone; Paccagnella, Alessandro
A comprehensive reliability evaluation of high-performance AlGaN/GaN HEMTs for space applications
2016 DE SANTI, Carlo; Dalcanale, Stefano; Stocco, Antonio; Rampazzo, Fabiana; Gerardin, Simone; Meneghini, Matteo; Meneghesso, Gaudenzio; Chini, Alessandro; Verzellesi, Giovanni; Grünenpütt, Jan; Lambert, Benoit; Schauwecker, Bernd; Blanck, Hervé; Barnes, Andrew; Zanoni, Enrico
Radiation tolerance study of a commercial 65nm CMOS technology for high energy physics applications
2016 Ding, Lili; Gerardin, Simone; Bagatin, Marta; Bisello, Dario; Mattiazzo, Serena; Paccagnella, Alessandro
Design of analog front-ends for the RD53 demonstrator chip
2016 Gaioni, L.; De Canio, F.; Nodari, B.; Manghisoni, M.; Re, V.; Traversi, G.; Barbero, M. B.; Fougeron, D.; Gensolen, F.; Godiot, S.; Menouni, M.; Pangaud, P.; Rozanov, A.; Wang, A.; Bomben, M.; Calderini, G.; Crescioli, F.; Le Dortz, O.; Marchiori, G.; Dzahini, D.; Rarbi, F. E.; Gaglione, R.; Gonella, L.; Hemperek, T.; Huegging, F.; Karagounis, M.; Kishishita, T.; Krueger, H.; Rymaszewski, P.; Wermes, N.; Ciciriello, F.; Corsi, F.; Marzocca, C.; De Robertis, G.; Loddo, F.; Licciulli, F.; Andreazza, A.; Liberali, V.; Shojaii, S.; Stabile, A.; Bagatin, M.; Bisello, D.; Mattiazzo, S.; Ding, L.; Gerardin, S.; Giubilato, P.; Neviani, A.; Paccagnella, A.; Vogrig, D.; Wyss, J.; Bacchetta, N.; Della Casa, G.; Demaria, N.; Mazza, G.; Rivetti, A.; Da Rocha Rolo, M. D.; Comotti, D.; Ratti, L.; Vacchi, C.; Beccherle, R.; Bellazzini, R.; Magazzu, G.; Minuti, M.; Morsani, F.; Palla, F.; Poulios, S.; Fanucci, L.; Rizzi, A.; Saponara, S.; Androsov, K.; Bilei, G. M.; Menichelli, M.; Conti, E.; Marconi, S.; Passeri, D.; Placidi, P.; Monteil, E.; Pacher, L.; Paterno, A.; Gajanana, D.; Gromov, V.; Hessey, N.; Kluit, R.; Zivkovic, V.; Havranek, M.; Janoska, Z.; Marcisovsky, M.; Neue, G.; Tomasek, L.; Kafka, V.; Sicho, P.; Vrba, V.; Vila, I.; Lopez-Morillo, E.; Aguirre, M. A.; Palomo, F. R.; Munoz, F.; Abbaneo, D.; Christiansen, J.; Dannheim, D.; Dobos, D.; Linssen, L.; Pernegger, H.; Valerio, P.; Alipour Tehrani, N.; Bell, S.; Prydderch, M. L.; Thomas, S.; Christian, D. C.; Fahim, F.; Hoff, J.; Lipton, R.; Liu, T.; Zimmerman, T.; Garcia-Sciveres, M.; Gnani, D.; Mekkaoui, A.; Gorelov, I.; Hoeferkamp, M.; Seidel, S.; Toms, K.; De Witt, J. N.; Grillo, A.
Impact of bias conditions on electrical stress and ionizing radiation effects in Si-based TFETs
2016 Ding, Lili; Gnani, Elena; Gerardin, Simone; Bagatin, Marta; Driussi, Francesco; Selmi, Luca; Le Royer, Cyrille; Paccagnella, Alessandro
Recent progress of RD53 Collaboration towards next generation Pixel Read-Out Chip for HL-LHC
2016 Demaria, N; Barbero, M. B.; Fougeron, D.; Gensolen, F.; Godiot, S.; Menouni, M.; Pangaud, P.; Rozanov, A.; Wang, A.; Bomben, M.; Calderini, G.; Crescioli, F.; Dortz, O. Le; Marchiori, G.; Dzahini, D.; Rarbi, F. E.; Gaglione, R.; Gonella, L.; Hemperek, T.; Huegging, F.; Karagounis, M.; Kishishita, T.; Krueger, H.; Rymaszewski, P.; Wermes, N.; Ciciriello, F.; Corsi, F.; Marzocca, C.; Robertis, G. De; Loddo, F.; Licciulli, F.; Andreazza, A.; Liberali, V.; Shojaii, S.; Stabile, A.; Bagatin, Marta; Bisello, Dario; Mattiazzo, Serena; Ding, Lili; Gerardin, Simone; Giubilato, Piero; Neviani, Andrea; Paccagnella, Alessandro; Vogrig, Daniele; Wyss, Jeffery; Bacchetta, N.; Canio, F. De; Gaioni, L.; Nodari, B.; Manghisoni, M.; Re, V.; Traversi, G.; Comotti, D.; Ratti, L.; Vacchi, C.; Beccherle, R.; Bellazzini, R.; Magazzu, G.; Minuti, M.; Morsani, F.; Palla, F.; Poulios, S.; Fanucci, L.; Rizzi, A.; Saponara, S.; Androsov, K.; Bilei, G. M.; Menichelli, M.; Conti, E.; Marconi, S.; Passeri, D.; Placidi, P.; Casa, G. Della; Mazza, G.; Rivetti, A.; Rolo, M. D. Da Rocha; Monteil, E.; Pacher, L.; Gajanana, D.; Gromov, V.; Hessey, N.; Kluit, R.; Zivkovic, V.; Havranek, M.; Janoska, Z.; Marcisovsky, M.; Neue, G.; Tomasek, L.; Kafka, V.; Sicho, P.; Vrba, V.; Vila, I.; Lopez Morillo, E.; Aguirre, M. A.; Palomo, F. R.; Muñoz, F.; Abbaneo, D.; Christiansen, J.; Dannheim, D.; Dobos, D.; Linssen, L.; Pernegger, H.; Valerio, P.; Tehrani, N. Alipour; Bell, S.; Prydderch, M. L.; Thomas, S.; Christian, D. C.; Fahim, F.; Hoff, J.; Lipton, R.; Liu, T.; Zimmerman, T.; Garcia Sciveres, M.; Gnani, D.; Mekkaoui, A.; Gorelov, I.; Hoeferkamp, M.; Seidel, S.; Toms, K.; Witt, J. N. De; Grillo, A.; Paternò, A.
Comparison of radiation degradation induced by x-ray and 3-MeV protons in 65-nm CMOS transistors
2016 Ding, Lili; Gerardin, Simone; Bagatin, Marta; Bisello, Dario; Mattiazzo, Serena; Paccagnella, Alessandro
Single Event Transients and Pulse Quenching Effects in Bandgap Reference Topologies for Space Applications
2016 Andreou, Charalambos M.; Javanainen, Arto; Rominski, Adrian; Virtanen, Ari; Liberali, Valentino; Calligaro, Cristiano; Prokofiev, Alexander V.; Gerardin, Simone; Bagatin, Marta; Paccagnella, Alessandro; Gonzalez Castano, Diego M.; Gomez, Faustino; Nahmad, Daniel; Georgiou, Julius
Muon-induced soft errors in 16-nm NAND flash memories
2016 Bagatin, Marta; Gerardin, Simone; Paccagnella, Alessandro; Visconti, A.; Beltrami, S.; Bertuccio, M.; Ishida, K.; Frost, C. D.; Hillier, A.; Ferlet Cavrois, V.
Proton irradiation effects on commercial laser diodes
2015 Marcello, Giulia; Mura, Giovanna; Vanzi, Massimo; Bagatin, Marta; Gerardin, Simone; Paccagnella, Alessandro
Enhancement of Transistor-to-Transistor Variability Due to Total Dose Effects in 65-nm MOSFETs
2015 Gerardin, Simone; Bagatin, Marta; Cornale, D.; Ding, Lili; Mattiazzo, Serena; Paccagnella, Alessandro; Faccio, F.; Michelis, S.
Effects of electrical stress and ionizing radiation on Si-based TFETs
2015 Lili, Ding; Gerardin, Simone; Paccagnella, Alessandro; Elena, Gnani; Bagatin, Marta; Francesco, Driussi; Luca, Selmi; Cyrille Le, Royer
Drain Current Collapse in 65 nm pMOS Transistors After Exposure to Grad Dose
2015 Ding, Lili; Gerardin, Simone; Bagatin, Marta; Mattiazzo, Serena; Bisello, Dario; Paccagnella, Alessandro
Radiation-Induced Short Channel (RISCE) and Narrow Channel (RINCE) Effects in 65 and 130 nm MOSFETs
2015 Faccio, F.; Michelis, S.; Cornale, D.; Paccagnella, Alessandro; Gerardin, Simone
Radiation vulnerability in 65 nm CMOS I/O transistors after exposure to grad dose
2015 Ding, Lili; Gerardin, Simone; Bagatin, Marta; Mattiazzo, Serena; Bisello, Dario; Paccagnella, Alessandro
Sample-to-Sample Variability of Floating Gate Errors Due to Total Ionizing Dose
2015 Gerardin, Simone; Bagatin, Marta; Bertoldo, Alessandra; Paccagnella, Alessandro; Ferlet Cavrois, V.
SEE tests of the NAND flash radiation tolerant intelligent memory stack
2015 Bagatin, Marta; Gerardin, Simone; Paccagnella, Alessandro; Sellier, C.; Wang, P. X.; Ferlet Cavrios, V.; Poivey, C.
CHIPIX65: Developments on a new generation pixel readout ASIC in CMOS 65 nm for HEP experiments
2015 Demaria, N.; Dellacasa, G.; Mazza, G.; Rivetti, A.; Da Rocha Rolo, M. D.; Monteil, E.; Pacher, L.; Ciciriello, F.; Corsi, F.; Marzocca, C.; De Roberts, G.; Loddo, F.; Tamma, C.; Bagatin, Marta; Bisello, Dario; Gerardin, Simone; Mattiazzo, Serena; Ding, Lili; Giubilato, Piero; Paccagnella, Alessandro; De Canio, F.; Gaioni, L.; Manghisoni, M.; Re, V.; Traversi, G.; Riceputi, E.; Ratti, L.; Vacchi, C.; Beccherle, R.; Magazzu, G.; Minuti, M.; Morsani, F.; Palla, F.; Liberali, V.; Shojaii, S.; Stabile, A.; Bilei, G. M.; Menichelli, M.; Conti, E.; Marconi, S.; Passen, D.; Placidi, P.
Investigation of total ionizing dose effect and displacement damage in 65nm CMOS transistors exposed to 3MeV protons
2015 Ding, Lili; Gerardin, Simone; Bagatin, Marta; Bisello, Dario; Mattiazzo, Serena; Paccagnella, Alessandro
Sensitive Volume and Extreme Shifts in Floating Gate Cells Irradiated with Heavy Ions
2015 Bagatin, Marta; Gerardin, Simone; Paccagnella, Alessandro; Visconti, Angelo; Bonanomi, Mauro; Chiavarone, Luca; Calabrese, Marcello; Ferlet Cavrois, Veronique
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