RicercaInizia una nuova ricerca

NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.

cerca in
Risultati 21 - 30 di 594 (tempo di esecuzione: 0.021 secondi).
Titolo Data di pubblicazione Autori Rivista Serie Titolo libro
Accelerated aging of GaN light emitting diodes studied by 1/f and RTS noise 2005 MENEGHESSO, GAUDENZIOLEVADA, SIMONEZANONI, ENRICO + - - -
Adaptive multi-wavelength LED star simulator for space life studies 2016 TRIVELLIN, NICOLABARBISAN, DIEGOFERRETTI, MARCOERCULIANI, MARCOCLAUDI, RICCARDOCOCOLA, LORENZOPOLETTO, LUCAMENEGHINI, MATTEOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + - - Proc. SPIE 9768, Light-Emitting Diodes: Materials, Devices, and Applications for Solid State Lighting XX
Addressing the electrical degradation of 845 nm micro-transfer printed VCSILs through TCAD simulations 2023 Zenari, M.Buffolo, M.De Santi, C.Meneghesso, G.Zanoni, E.Meneghini, M. + - - Proceedings of 2023 International Conference on Numerical Simulation of Optoelectronic Devices (NUSOD)
Affidabilità delle tecnologie elettroniche per applicazioni su autoveicolo 1993 ZANONI, ENRICO + - - Atti del 1mo convegno nazionale CNR progetto finalizzato trasporti
Ageing mechanisms of 420nm GaN HBLED 2010 TRIVELLIN, NICOLAMENEGHINI, MATTEOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + - - International Workshop on Nitride Semiconductors - IWN2010
Aging behavior, reliability, and failure physics of GaN-based optoelectronic components 2016 ZANONI, ENRICOMENEGHINI, MATTEOMENEGHESSO, GAUDENZIODE SANTI, CARLOLA GRASSA, MARCOBUFFOLO, MATTEOTRIVELLIN, NICOLAMONTI, DESIREE - - Proc. SPIE 9768, Light-Emitting Diodes: Materials, Devices, and Applications for Solid State Lighting XX
An innovative lighting control system to allow parametric relation with the natural environment 2016 TRIVELLIN, NICOLABARBISAN, DIEGOFERRETTI, MARCOMENEGHINI, MATTEOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + - - Proc. of LED Professional Symposium LpS 2016
Analisi dei meccanismi di guasto dovuti alla metallizzazione di gate in MESFET al GaAs 1986 ZANONI, ENRICO - - Atti del LXXII Congresso Nazionale della Società Italiana di Fisica
Analysis and design of extreme intensity irradiation devices for research applications 2020 Trivellin N.Pizzolato A.Meneghini M.Dughiero F.Forzan M.Zanoni E.Meneghesso G. - PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Analysis and design of SARS-CoV-2 disinfection chambers based on UVC LEDs 2022 Trivellin, NBuffolo, MBarbato, MDel Vecchio, CDughiero, FZanoni, EMeneghesso, GCrisanti, AMeneghini, M + - PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING Proceedings Volume 12022, Light-Emitting Devices, Materials, and Applications XXVI
Risultati 21 - 30 di 594 (tempo di esecuzione: 0.021 secondi).
Legenda icone

  •  file ad accesso aperto
  •  file disponibili sulla rete interna
  •  file disponibili agli utenti autorizzati
  •  file disponibili solo agli amministratori
  •  file sotto embargo
  •  nessun file disponibile

Aggiungere filtri:  
Aggiungi
Opzioni
Scopri
Tipologia
  • 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO 594
  • 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO... 570
  • 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO... 24
Autore
  • MENEGHESSO, GAUDENZIO 548
  • MENEGHINI, MATTEO 418
  • DE SANTI, CARLO 197
  • TRIVELLIN, NICOLA 92
  • BUFFOLO, MATTEO 82
  • RAMPAZZO, FABIANA 81
  • STOCCO, ANTONIO 50
  • TAZZOLI, AUGUSTO 35
  • BISI, DAVIDE 32
  • CARIA, ALESSANDRO 31
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 103
  • 2010 - 2019 290
  • 2000 - 2009 133
  • 1990 - 1999 54
  • 1981 - 1989 14
Editore
  • SPIE 32
  • Institute of Electrical and Elect... 29
  • IEEE 21
  • SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING 18
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 7
  • IEEE Institute of Electrical and ... 4
  • Gaudenzio Meneghesso 3
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 3
  • Institute of Physics Publishing 3
  • EDITRICE COMPOSITORI BOLOGNA 2
Rivista
  • PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 9
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 5
  • INSTITUTE OF PHYSICS CONFERENCE S... 3
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 3
  • AIP CONFERENCE PROCEEDINGS 2
  • IEEE MTT-S INTERNATIONAL MICROWAV... 1
  • PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL ... 1
Serie
  • PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 32
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 18
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 3
  • PROCEEDINGS OF THE ... INTERNATIO... 1
Keyword
  • reliability 143
  • HEMT 137
  • Gallium Nitride 129
  • degradation 127
  • light emitting diodes 64
  • Charge Trapping 61
  • InGaN 50
  • Gallium Arsenide 24
  • Reliability 20
  • Electrical and Electronic Enginee... 18
Lingua
  • eng 566
  • ita 11
Accesso al fulltext
  • no fulltext 594