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Titolo Data di pubblicazione Autori Rivista Serie Titolo libro
Adaptive multi-wavelength LED star simulator for space life studies 2016 TRIVELLIN, NICOLABARBISAN, DIEGOFERRETTI, MARCOERCULIANI, MARCOCLAUDI, RICCARDOCOCOLA, LORENZOPOLETTO, LUCAMENEGHINI, MATTEOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + - - Proc. SPIE 9768, Light-Emitting Diodes: Materials, Devices, and Applications for Solid State Lighting XX
Addressing the electrical degradation of 845 nm micro-transfer printed VCSILs through TCAD simulations 2023 Zenari, M.Buffolo, M.De Santi, C.Meneghesso, G.Zanoni, E.Meneghini, M. + - - Proceedings of 2023 International Conference on Numerical Simulation of Optoelectronic Devices (NUSOD)
Affidabilità delle tecnologie elettroniche per applicazioni su autoveicolo 1993 ZANONI, ENRICO + - - Atti del 1mo convegno nazionale CNR progetto finalizzato trasporti
Ageing mechanisms of 420nm GaN HBLED 2010 TRIVELLIN, NICOLAMENEGHINI, MATTEOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + - - International Workshop on Nitride Semiconductors - IWN2010
Aging behavior, reliability, and failure physics of GaN-based optoelectronic components 2016 ZANONI, ENRICOMENEGHINI, MATTEOMENEGHESSO, GAUDENZIODE SANTI, CARLOLA GRASSA, MARCOBUFFOLO, MATTEOTRIVELLIN, NICOLAMONTI, DESIREE - - Proc. SPIE 9768, Light-Emitting Diodes: Materials, Devices, and Applications for Solid State Lighting XX
An innovative lighting control system to allow parametric relation with the natural environment 2016 TRIVELLIN, NICOLABARBISAN, DIEGOFERRETTI, MARCOMENEGHINI, MATTEOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + - - Proc. of LED Professional Symposium LpS 2016
Analysis and design of extreme intensity irradiation devices for research applications 2020 Trivellin N.Pizzolato A.Meneghini M.Dughiero F.Forzan M.Zanoni E.Meneghesso G. - PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Analysis and design of SARS-CoV-2 disinfection chambers based on UVC LEDs 2022 Trivellin, NBuffolo, MBarbato, MDel Vecchio, CDughiero, FZanoni, EMeneghesso, GCrisanti, AMeneghini, M + - PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING Proceedings Volume 12022, Light-Emitting Devices, Materials, and Applications XXVI
Analysis and Modeling of VthShift in 4H-SiC MOSFETs at Room and Cryogenic-Temperature 2022 Masin F.De Santi C.Meneghesso G.Zanoni E.Meneghini M. + - IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM PROCEEDINGS Proceedgins of 2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
Analysis of charge storage in the base of bipolar transistors and its influence on the parasitic resistance adopting an eight terminal Kelvin test structureProceedings of International Conference on Microelectronic Test Structures 1996 NEVIANI, ANDREAZANONI, ENRICO + - - Proceedings of International Conference on Microelectronic Test Structures
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Tipologia
  • 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO 570
  • 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO... 570
Autore
  • MENEGHESSO, GAUDENZIO 529
  • MENEGHINI, MATTEO 398
  • DE SANTI, CARLO 194
  • TRIVELLIN, NICOLA 89
  • BUFFOLO, MATTEO 81
  • RAMPAZZO, FABIANA 80
  • STOCCO, ANTONIO 49
  • TAZZOLI, AUGUSTO 35
  • CARIA, ALESSANDRO 31
  • ROSSETTO, ISABELLA 30
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 103
  • 2010 - 2019 270
  • 2000 - 2009 132
  • 1990 - 1999 52
  • 1981 - 1989 13
Editore
  • SPIE 32
  • Institute of Electrical and Elect... 29
  • IEEE 21
  • SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING 18
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 6
  • IEEE Institute of Electrical and ... 4
  • Gaudenzio Meneghesso 3
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 3
  • Institute of Physics Publishing 3
  • IEEE / Institute of Electrical an... 2
Rivista
  • PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 9
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 5
  • INSTITUTE OF PHYSICS CONFERENCE S... 3
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 3
  • AIP CONFERENCE PROCEEDINGS 2
  • IEEE MTT-S INTERNATIONAL MICROWAV... 1
  • PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL ... 1
Serie
  • PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 32
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 18
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 3
  • PROCEEDINGS OF THE ... INTERNATIO... 1
Keyword
  • reliability 143
  • HEMT 137
  • Gallium Nitride 128
  • degradation 127
  • light emitting diodes 63
  • Charge Trapping 61
  • InGaN 49
  • Gallium Arsenide 24
  • Reliability 20
  • Electrical and Electronic Enginee... 18
Lingua
  • eng 545
  • ita 8
Accesso al fulltext
  • no fulltext 570