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NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.
Trapping processes related to iron and carbon doping in AlGaN/GaN power HEMTs
2015 Meneghini, Matteo; Bisi, Davide; Rossetto, Isabella; DE SANTI, Carlo; Stocco, Antonio; Hilt, O.; Bahat Treidel, E.; Wuerfl, J.; Rampazzo, Fabiana; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Traps characterization in AlGaN/GaN HEMTs by means of Drain Current Transient Measurements
2012 F., Soci; A., Chini; F., Fantini; A., Nanni; A., Pantellini; C., Lanzieri; Bisi, Davide; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Traps characterization in Si-doped GaN/AlGaN/GaN HEMT on SiC by means of low frequency techniques
2005 Sozza, Alberto; C., Dua; N., Sarazin; E., Morvan; S. L., Delage; Rampazzo, Fabiana; Tazzoli, Augusto; Danesin, Francesca; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; A., Curutchet; N., Malbert; N., Labat
Traps related effects in SiC and GaN-based devices
2001 Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Two-Dimensional Numerical Simulation of Deep Level Effect in 6H-SiC Buried-Gate JFETs
2001 G., Verzellesi; Meneghesso, Gaudenzio; A., Cavallini; Zanoni, Enrico; C., Canali
Unpassivated GaN/AlGaN/GaN HEMTs with very low DC to RF drain current dispersion
2004 Pierobon, Roberto; Rampazzo, Fabiana; Corradini, Luca; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; J., Bernt; M. MARSO AND P., Kordos
UV LED reliability: degradation mechanisms and challenges
2022 Meneghini, M; Piva, F; De Santi, C; Trivellin, N; Buffolo, M; Roccato, N; Brescancin, R; Grigoletto, M; Fiorimonte, D; Einfeldt, S; Glaab, J; Ruschel, J; Susilo, N; Wernicke, T; Kneissl, M; Meneghesso, G; Zanoni, E
Vertical stack reliability of GaN-on-Si buffers for low-voltage applications
2021 Fabris, E.; Borga, M.; Posthuma, N.; Zhao, M.; De Jaeger, B.; You, S.; Decoutere, S.; Meneghini, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
White light source based on GaN laser diode
2017 Trivellin, N.; Buffolo, M.; Meneghini, M.; Zanoni, E.; Meneghesso, G.
White-light sources based on GaN laser diodes: Analysis and application study
2018 Trivellin, Nicola; Yushchenko, Maksym; Buffolo, Matteo; Meneghini, Matteo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
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- 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO 570
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Data di pubblicazione
- 2020 - 2023 103
- 2010 - 2019 270
- 2000 - 2009 132
- 1990 - 1999 52
- 1981 - 1989 13
Editore
- SPIE 32
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- IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 6
- IEEE Institute of Electrical and ... 4
- Gaudenzio Meneghesso 3
- IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 3
- Institute of Physics Publishing 3
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Rivista
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Serie
- PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 32
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Keyword
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- HEMT 137
- Gallium Nitride 128
- degradation 127
- light emitting diodes 63
- Charge Trapping 61
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- Reliability 20
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