RicercaInizia una nuova ricerca
NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.
A Novel System to Measure the Dynamic On‑Resistance of On‑Wafer 600 V Normally-Off GaN HEMTs in Real Application Conditions
2017 Barbato, Alessandro; Barbato, M.; Meneghini, M.; Silvestri, M.; Detzel, T.; Haeberlen, O.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
A physics-based, accurate spice model of impact-ionization effects in bipolar transistors
1994 Zanoni, Enrico; A., Dal Fabbro; L., Vendrame; G., Verzellesi; Meneghesso, Gaudenzio; P., Pavan; A., Chantre
A review of failure modes and mechanisms of GaN-based HEMT's
2007 Zanoni, Enrico; Meneghesso, Gaudenzio; G., Verzellesi; Danesin, Francesca; Meneghini, Matteo; Rampazzo, Fabiana; Tazzoli, Augusto; Zanon, Franco
A Review of SiC Commercial Devices for Automotive: Properties and Challenges
2023 Marcuzzi, Alberto; Favero, Davide; DE SANTI, Carlo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
A Review on the Reliability of GaN-based Laser Diodes
2010 Trivellin, Nicola; Meneghini, Matteo; Zanoni, Enrico; K., Orita; M., Yuri; T., Tanaka; D., Ueda; Meneghesso, Gaudenzio
A SC Video Filter with Analog-RAM-based Delay Efficient Realization
1999 Gerosa, Andrea; Novo, A.; Neviani, Andrea; Zanoni, Enrico
A study of Failure of GaN-based LEDs submitted to reverse-bias stress and ESD events
2010 Meneghini, Matteo; Tazzoli, Augusto; E., Ranzato; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; M., Pavesi; M., Manfredi; R., Butendeich; U., Zehnder; B., Hahn
A study of trapping phenomena on Recessed-Gate AlGaN/GaN-on- Silicon HEMT
2010 Ronchi, Nicolo'; Meneghini, Matteo; Stocco, Antonio; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; S., Tirelli; C. R., Bolognesi
A study on the reverse-bias and ESD instabilities of InGaN-based green LEDs
2010 Meneghini, Matteo; Tazzoli, Augusto; Trivellin, Nicola; E., Ranzato; DAL LAGO, Matteo; B., Hahn; U., Zehnder; R., Butendeich; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Accelerated aging of GaN light emitting diodes studied by 1/f and RTS noise
2005 S., Bychikhin; L. K. J., Vandamme; J., Kuzmik; Meneghesso, Gaudenzio; Levada, Simone; Zanoni, Enrico; D., Pogany
Legenda icone
- file ad accesso aperto
- file disponibili sulla rete interna
- file disponibili agli utenti autorizzati
- file disponibili solo agli amministratori
- file sotto embargo
- nessun file disponibile
Opzioni
Scopri
Tipologia
- 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO 570
- 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO... 570
Data di pubblicazione
- 2020 - 2023 103
- 2010 - 2019 270
- 2000 - 2009 132
- 1990 - 1999 52
- 1981 - 1989 13
Editore
- SPIE 32
- Institute of Electrical and Elect... 29
- IEEE 21
- SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING 18
- IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 6
- IEEE Institute of Electrical and ... 4
- Gaudenzio Meneghesso 3
- IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 3
- Institute of Physics Publishing 3
- IEEE / Institute of Electrical an... 2
Rivista
- PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 9
- IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 5
- INSTITUTE OF PHYSICS CONFERENCE S... 3
- PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 3
- AIP CONFERENCE PROCEEDINGS 2
- IEEE MTT-S INTERNATIONAL MICROWAV... 1
- PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL ... 1
Serie
- PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 32
- IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 18
- TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 3
- PROCEEDINGS OF THE ... INTERNATIO... 1
Keyword
- reliability 143
- HEMT 137
- Gallium Nitride 128
- degradation 127
- light emitting diodes 63
- Charge Trapping 61
- InGaN 49
- Gallium Arsenide 24
- Reliability 20
- Electrical and Electronic Enginee... 18
Lingua
- eng 545
- ita 8
Accesso al fulltext
- no fulltext 570