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NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.
Al2O3 Surface Passivation Characterized on Hydrophobic and Hydrophilic Si by Combination of QSSPC, CV and FTIR
2012 H., Goverde; T., Beard; J., Horzel; J., John; A., Morato; J., Poortmans; B., Vermang; Meneghesso, Gaudenzio
AlGaN/GaN HEMTs degradation induced by reverse bias testing
2009 Meneghesso, Gaudenzio
Alternative ESD Protection Structure in CMOS Technology for the Manufacture of High-Density Integration Circuits
2007 Marino, FABIO ALESSIO; Meneghesso, Gaudenzio
Alternative GGnMOS Triggered SCR ESD Protection Structure in CMOS Technology for the Manufacture of High- Density Integration Circuits
2008 Marino, FABIO ALESSIO; Meneghesso, Gaudenzio
Alternative MOS Devices for the Manufacture of High-Density ICs
2007 Marino, FABIO ALESSIO; Meneghesso, Gaudenzio
An innovative lighting control system to allow parametric relation with the natural environment
2016 Trivellin, Nicola; Barbisan, Diego; Ferretti, Marco; Meneghini, Matteo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Zanola, F.; Porcaro, L.; De Bevilacqua, C.
An Insight into effects Induced by Heavy-Ion Strikes in SCR ESD Protection Structures
2011 Griffoni, Alessio; S., Thijs; S. H., Chen; Tazzoli, Augusto; M., Cordoni; P., Colombo; Paccagnella, Alessandro; D., Linten; Meneghesso, Gaudenzio; G., Groeseneken
An Insight into the Parasitic Capacitances of SOI and Bulk FinFET Devices
2009 Griffoni, Alessio; S., Thijs; D., Linten; M., Scholz; G., Groeseneken; Meneghesso, Gaudenzio
An investigation of reliability on hybrid substrates GaN-HEMTs
2008 Zanon, Franco; Ronchi, Nicolo'; Danesin, Francesca; P., Bove; R., Langer; J., Thorpe; Stocco, Antonio; Meneghesso, Gaudenzio
Analysis and design of extreme intensity irradiation devices for research applications
2020 Trivellin, N.; Pizzolato, A.; Meneghini, M.; Dughiero, F.; Forzan, M.; Zanoni, E.; Meneghesso, G.
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Tipologia
- 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO 671
- 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO... 671
Data di pubblicazione
- 2020 - 2023 107
- 2010 - 2019 337
- 2000 - 2009 184
- 1992 - 1999 43
Editore
- Institute of Electrical and Elect... 35
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- IEEE 22
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Rivista
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Serie
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Keyword
- reliability 172
- HEMT 156
- degradation 152
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