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Titolo Data di pubblicazione Autori Rivista Serie Titolo libro
Analysis of efficiency-droop mechanisms in single-quantum well InGaN/GaN light-emitting diodes 2011 MENEGHINI, MATTEOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + - - Proc. Of the 38th International Symposium on Compound Semiconductors – ISCS 2011
Analysis of ESD effects on organic thin-film-transistors by means of TLP technique 2016 WRACHIEN, NICOLABARBATO, MARCOCESTER, ANDREARIZZO, ANTONIOMENEGHESSO, GAUDENZIO + - - IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings
Analysis of High-Electric-Field Degradation in ALGAN/GAN HEMTs 2007 RAMPAZZO, FABIANAMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + - - -
Analysis of hot carrier aging degradation in GaN MESFETs 2004 PIEROBON, ROBERTORAMPAZZO, FABIANAPACETTA, DOMENICOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + - - -
Analysis of the deep level responsible for the degradation of InGaN-based laser diodes by DLTS 2012 MENEGHINI, MATTEODE SANTI, CARLOTRIVELLIN, NICOLAMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + - - Proceedings of SPIE
Analysis of the deep levels related to non-radiative recombination in GaN-on-Si LEDs: a study based on deep level transient spectroscopy 2014 MENEGHINI, MATTEOLA GRASSA, MARCOVACCARI, SIMONETRIVELLIN, NICOLAMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + - - Proc. of the International Workshop on Nitride Semiconductors IWN-2014
Analysis of the degradation of AlGaN-based deep-ultraviolet LEDs 2009 MENEGHESSO, GAUDENZIOMENEGHINI, MATTEOTRIVELLIN, NICOLAZANONI, ENRICO + - - -
Analysis of the Degradation of Blu-Ray Laser Diodes 2008 TRIVELLIN, NICOLAMENEGHINI, MATTEOMENEGHESSO, GAUDENZIOTREVISANELLO, LORENZO ROBERTOZANONI, ENRICO + - - -
Analysis of the Diffusion Involved in the Degradation of InGaN-Based Laser Diodes 2009 MENEGHINI, MATTEOTRIVELLIN, NICOLATREVISANELLO, LORENZO ROBERTOZANONI, ENRICOMENEGHESSO, GAUDENZIO + - - -
Analysis of the drain-to-substrate leakage of power HEMTs grown on highly resistive silicon substrate 2018 M. BorgaM. MeneghiniG. MeneghessoE. Zanoni + - - Proceedings of the GaN Marathon 2.0
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Tipologia
  • 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO 696
  • 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO... 671
  • 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO... 25
Autore
  • ZANONI, ENRICO 548
  • MENEGHINI, MATTEO 429
  • DE SANTI, CARLO 196
  • TRIVELLIN, NICOLA 92
  • BUFFOLO, MATTEO 82
  • RAMPAZZO, FABIANA 82
  • TAZZOLI, AUGUSTO 72
  • STOCCO, ANTONIO 51
  • CESTER, ANDREA 40
  • BISI, DAVIDE 32
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 107
  • 2010 - 2019 361
  • 2000 - 2009 185
  • 1992 - 1999 43
Editore
  • Institute of Electrical and Elect... 35
  • SPIE 33
  • IEEE 22
  • SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING 18
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 7
  • IEEE Institute of Electrical and ... 5
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 5
  • IEEE / Institute of Electrical an... 4
  • Gaudenzio Meneghesso 3
  • IEEE Computer Society 2
Rivista
  • PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 10
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 6
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 5
  • AIP CONFERENCE PROCEEDINGS 2
  • PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL ... 1
Serie
  • PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 32
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 20
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 4
  • PROCEEDINGS OF THE ... INTERNATIO... 1
  • PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL ... 1
Keyword
  • reliability 172
  • HEMT 157
  • degradation 153
  • Gallium Nitride 142
  • Charge Trapping 66
  • light emitting diodes 66
  • InGaN 50
  • Electrostatic discharge (ESD) 37
  • MEMS 32
  • Gallium Arsenide 31
Lingua
  • eng 674
  • ita 4
  • jpn 1
Accesso al fulltext
  • no fulltext 695
  • open 1