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Analysis and design of extreme intensity irradiation devices for research applications
2020 Trivellin, N.; Pizzolato, A.; Meneghini, M.; Dughiero, F.; Forzan, M.; Zanoni, E.; Meneghesso, G.
Analysis and design of SARS-CoV-2 disinfection chambers based on UVC LEDs
2022 Trivellin, N; Buffolo, M; Onelia, F; Pizzolato, A; Barbato, M; Orlandi, Vt; Del Vecchio, C; Dughiero, F; Zanoni, E; Meneghesso, G; Crisanti, A; Meneghini, M
Analysis and Modeling of VthShift in 4H-SiC MOSFETs at Room and Cryogenic-Temperature
2022 Masin, F.; De Santi, C.; Stockman, A.; Lettens, J.; Geenen, F.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Moens, P.; Meneghini, M.
Analysis of a High-Power-Factor Electronic Ballast for High Brightness Light Emitting Diodes
2005 Spiazzi, Giorgio; Buso, Simone; Meneghesso, Gaudenzio
Analysis of DC and rf degradation of AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistors based on pulsed measurements and spectroscopic techniques
2010 Zanoni, Enrico; A., Chini; Stocco, Antonio; I., Rossetto; Meneghini, Matteo; Rampazzo, Fabiana; Ronchi, Nicolo'; Tazzoli, Augusto; G., Verzellesi; Meneghesso, Gaudenzio
Analysis of defect-related optical degradation of VCSILs for photonic integrated circuits
2023 Zenari, M.; Buffolo, M.; Fornasier, M.; De Santi, C.; Goyvaerts, J.; Grabowsky, A.; Gustavsson, J.; Kumari, S.; Stassren, A.; Baets, R.; Larsson, A.; Roelkens, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Analysis of degradation mechanisms in UVC single QW LEDs through electrical, optical and spectral measurements
2022 Piva, F.; Roccato, N.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Pilati, M.; Susilo, N.; Guttmann, M.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Analysis of degradation processes of UV‐A light emitting diodes stressed at constant current
2016 Monti, Desiree; Meneghini, Matteo; DE SANTI, Carlo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Analysis of dislocation-related and point-defects in III-As layers by extensive DLTS study
2022 Zenari, M; Buffolo, M; De Santi, C; Norman, J; Meneghesso, G; Bowers, Je; Zanoni, E; Meneghini, M
Analysis of efficiency-droop mechanisms in GaN-based light-emitting diodes, related technological solutions and discriminating experiments
2011 D., Saguatti; G., Verzellesi; Meneghini, Matteo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; R., Butendeich; B., Hahn
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Data di pubblicazione
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- 2000 - 2009 185
- 1992 - 1999 43
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