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Titolo Data di pubblicazione Autori Rivista Serie Titolo libro
Aging behavior, reliability, and failure physics of GaN-based optoelectronic components 2016 ZANONI, ENRICOMENEGHINI, MATTEOMENEGHESSO, GAUDENZIODE SANTI, CARLOLA GRASSA, MARCOBUFFOLO, MATTEOTRIVELLIN, NICOLAMONTI, DESIREE - - Proc. SPIE 9768, Light-Emitting Diodes: Materials, Devices, and Applications for Solid State Lighting XX
Al2O3 Surface Passivation Characterized on Hydrophobic and Hydrophilic Si by Combination of QSSPC, CV and FTIR 2012 MENEGHESSO, GAUDENZIO + - - -
AlGaN/GaN HEMTs degradation induced by reverse bias testing 2009 MENEGHESSO, GAUDENZIO - - The Workshop on Compound Semiconductor Materials and Devices, WOCSEMMAD 09
Alternative ESD Protection Structure in CMOS Technology for the Manufacture of High-Density Integration Circuits 2007 MARINO, FABIO ALESSIOMENEGHESSO, GAUDENZIO - - -
Alternative GGnMOS Triggered SCR ESD Protection Structure in CMOS Technology for the Manufacture of High- Density Integration Circuits 2008 MARINO, FABIO ALESSIOMENEGHESSO, GAUDENZIO - - -
Alternative MOS Devices for the Manufacture of High-Density ICs 2007 MARINO, FABIO ALESSIOMENEGHESSO, GAUDENZIO - - -
An innovative lighting control system to allow parametric relation with the natural environment 2016 TRIVELLIN, NICOLABARBISAN, DIEGOFERRETTI, MARCOMENEGHINI, MATTEOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + - - Proc. of LED Professional Symposium LpS 2016
An Insight into effects Induced by Heavy-Ion Strikes in SCR ESD Protection Structures 2011 GRIFFONI, ALESSIOTAZZOLI, AUGUSTOPACCAGNELLA, ALESSANDROMENEGHESSO, GAUDENZIO + - - IEW2011, 2011 International Electrostatic Discharge Workshop
An Insight into the Parasitic Capacitances of SOI and Bulk FinFET Devices 2009 GRIFFONI, ALESSIOMENEGHESSO, GAUDENZIO + - - -
An investigation of reliability on hybrid substrates GaN-HEMTs 2008 ZANON, FRANCORONCHI, NICOLO'DANESIN, FRANCESCASTOCCO, ANTONIOMENEGHESSO, GAUDENZIO + - - -
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Tipologia
  • 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO 696
  • 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO... 671
  • 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO... 25
Autore
  • ZANONI, ENRICO 548
  • MENEGHINI, MATTEO 429
  • DE SANTI, CARLO 196
  • TRIVELLIN, NICOLA 92
  • BUFFOLO, MATTEO 82
  • RAMPAZZO, FABIANA 82
  • TAZZOLI, AUGUSTO 72
  • STOCCO, ANTONIO 51
  • CESTER, ANDREA 40
  • BISI, DAVIDE 32
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 107
  • 2010 - 2019 361
  • 2000 - 2009 185
  • 1992 - 1999 43
Editore
  • Institute of Electrical and Elect... 35
  • SPIE 33
  • IEEE 22
  • SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING 18
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 7
  • IEEE Institute of Electrical and ... 5
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 5
  • IEEE / Institute of Electrical an... 4
  • Gaudenzio Meneghesso 3
  • IEEE Computer Society 2
Rivista
  • PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 10
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 6
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 5
  • AIP CONFERENCE PROCEEDINGS 2
  • PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL ... 1
Serie
  • PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 32
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 20
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 4
  • PROCEEDINGS OF THE ... INTERNATIO... 1
  • PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL ... 1
Keyword
  • reliability 172
  • HEMT 157
  • degradation 153
  • Gallium Nitride 142
  • Charge Trapping 66
  • light emitting diodes 66
  • InGaN 50
  • Electrostatic discharge (ESD) 37
  • MEMS 32
  • Gallium Arsenide 31
Lingua
  • eng 674
  • ita 4
  • jpn 1
Accesso al fulltext
  • no fulltext 695
  • open 1