Sfoglia per Autore
Reliability and efficiency-limiting mechanisms in III-N LEDs: an experimental analysis assisted by numerical simulations
2024 Roccato, Nicola
Modeling of the electrical characteristics and degradation mechanisms of UV-C LEDs
2024 Roccato, Nicola; Piva, Francesco; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Susilo, Normal; Vidal, Daniel Hauer; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Wernicke, Tim; Kneissl, Micheal; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Lifetime limiting degradation mechanisms of state-of-the-art UVC LEDs
2023 Zanoni, Enrico; Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Trivellin, Nicola; DE SANTI, Carlo; Roccato, Nicola; Pilati, Marco; Susilo, Norman; Hauer Vidal, David; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo
On the degradation mechanisms of state-of-the-art UV-C LEDs
2023 Buffolo, Matteo; Piva, Francesco; Roccato, Nicola; DE SANTI, Carlo; Trivellin, Nicola; Pilati, Marco; Susilo, Norman; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Degradation of AlGaN-based SQW UV-C LEDs investigated by capacitance deep level transient spectroscopy
2023 Piva, F.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Pilati, M.; Roccato, N.; Muhin, A.; Susilo, N.; Vidal, D. H.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Modeling the electrical degradation of AlGaN-based UV-C LEDs by combined deep-level optical spectroscopy and TCAD simulations
2023 Roccato, N.; Piva, F.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Fregolent, M.; Pilati, M.; Susilo, N.; Vidal, D. H.; Muhin, A.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Degradation of AlGaN-based UV-C SQW LEDs analyzed by means of capacitance deep-level transient spectroscopy and numerical simulations
2023 Piva, F.; Pilati, M.; Buffolo, M.; Roccato, N.; Susilo, N.; Hauer Vidal, D.; Muhin, A.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Modeling the electrical characteristic and degradation mechanisms of UV-C LEDs
2023 Roccato, Nicola; Piva, Francesco; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Susilo, Normal; Vidal, Daniel Hauer; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Wernicke, Tim; Kneissl, Micheal; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
On the importance of Fast and Accurate LED Optical and Thermal Characterization: from visible use cases to UV technologies
2023 Trivellin, Nicola; Roccato, Nicola; Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; De Santi, Carlo; Narduzzi, Claudio; Fraccaroli, Riccardo; Caria, Alessandro; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
III-N optoelectronic devices: understanding the physics of electro-optical degradation
2023 Meneghini, Matteo; Roccato, Nicola; Piva, Francesco; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Haller, Camille; Carlin, Jean-Francois; Grandjean, Nicolas; Tibaldi, Alberto; Bertazzi, Francesco; Goano, Michele; Verzellesi, Giovanni; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
III-N optoelectronics: defects, reliability and challenges
2022 Meneghini, M.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Caria, A.; Piva, F.; Casu, C.; Roccato, N.; Carlin, J. F.; Grandjean, N.; Tibaldi, A.; Bertazzi, F.; Goano, M.; Verzellesi, G.; Trivellin, N.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
Discriminating the effects of deep-levels in InGaN/GaN LEDs: impact on forward leakage current
2022 Buffolo, M.; Roccato, N.; Piva, F.; De Santi, C.; Haller, C.; Carlin, Jean-François; Grandjean, N.; Vallone, M.; Tibaldic, A.; Bertazzi, F.; Goano, M.; Verzellesi, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
DLTS-based defect analysis in UV-C single QW LEDs during a constant current stress
2022 Piva, F.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Pilati, M.; Roccato, N.; Susilo, N.; Guttmann, M.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Defects in III-N LEDs: experimental identification and impact on electro-optical characteristics
2022 Buffolo, M; Roccato, N; Piva, F; De Santi, C; Brescancin, R; Casu, C; Caria, A; Mukherjee, K; Haller, C; Carlin, Jf; Grandjean, N; Vallone, M; Tibaldi, A; Bertazzi, F; Goano, M; Verzellesi, G; Mosca, M; Meneghesso, G; Zanoni, E; Meneghini, M
UV LED reliability: degradation mechanisms and challenges
2022 Meneghini, M; Piva, F; De Santi, C; Trivellin, N; Buffolo, M; Roccato, N; Brescancin, R; Grigoletto, M; Fiorimonte, D; Einfeldt, S; Glaab, J; Ruschel, J; Susilo, N; Wernicke, T; Kneissl, M; Meneghesso, G; Zanoni, E
Analysis of degradation mechanisms in UVC single QW LEDs through electrical, optical and spectral measurements
2022 Piva, F.; Roccato, N.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Pilati, M.; Susilo, N.; Guttmann, M.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Modeling of TAT-related forward leakage current in InGaN/GaN SQW LEDs based on experimentally-determined defects parameters
2022 Buffolo, M.; Roccato, N.; Piva, Francesco; DE SANTI, Carlo; Haller, C.; Carlin, J. -F.; Grandjean, N.; Tibaldi, A.; Bertazzi, F.; Goano, M.; Verzellesi, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Probing carrier transport and recombination processes in dichromatic GaN-based LEDs: a nonequilibrium Green’s function study
2022 Gonzalez Montoya, J. A.; Tibaldi, A.; Casu, C.; Roccato, N.; De Santi, C.; Meneghini, M.; Goano, M.; Bertazzi, F.
Defects and Reliability of GaN-Based LEDs: Review and Perspectives
2022 Buffolo, M.; Caria, A.; Piva, F.; Roccato, N.; Casu, C.; De Santi, C.; Trivellin, N.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Deep defects in InGaN LEDs: modeling the impact on the electrical characteristics
2022 Roccato, N; Piva, F; De Santi, C; Brescancin, R; Mukherjee, K; Buffolo, M; Haller, C; Carlin, Jf; Grandjean, N; Vallone, M; Tibaldi, A; Bertazzi, F; Goano, M; Verzellesi, G; Meneghesso, G; Zanoni, E; Meneghini, M
Legenda icone
- file ad accesso aperto
- file disponibili sulla rete interna
- file disponibili agli utenti autorizzati
- file disponibili solo agli amministratori
- file sotto embargo
- nessun file disponibile