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Modeling the degradation mechanisms of UV-C LEDs
2024 Roccato, Nicola; Piva, Francesco; DE SANTI, Carlo; Buffolo, Matteo; Susilo, Normal; Hauer Vidal, Daniel; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Wernicke, Tim; Kneissl, Micheal; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Fast Characterization of Power LEDs: Circuit Design and Experimental Results
2024 Roccato, Nicola; Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Trivellin, Nicola; De Santi, Carlo; Narduzzi, Claudio; Fraccaroli, Riccardo; Caria, Alessandro; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
V-Pits and Trench-Like Defects in High Periodicity MQWs GaN-Based Solar Cells: Extensive Electro-Optical Analysis
2024 Nicoletto, Marco; Caria, Alessandro; Rampazzo, Fabiana; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Rossi, Francesca; Huang, Xuanqui; Fu, Houqiang; Chen, Hong; Zhao, Yuji; Gasparotto, Andrea; Becht, Conny; Schwarz, Ulrich T.; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Semitransparent Perovskite Solar Cells for Si Tandem and Agrivoltaic Integration
2024 Trivellin, N.; Tormena, N.; Barrantes, J. J. N.; De Santi, C.; Piva, F.; Caria, A.; Buffolo, M.; Cester, A.; Matteocci, F.; Di Carlo, A.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Negative Activation Energy of Gate Reliability in Schottky-Gate p-GaN HEMTs: Combined Gate Leakage Current Modeling and Spectral Electroluminescence Investigation
2024 Fregolent, Manuel; Boito, Mirco; Disarò, Michele; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Canato, Eleonora; Gallo, Michele; Miccoli, Cristina; Rossetto, Isabella; Pizzo, Giansalvo; Russo, Alfio; Iucolano, Ferdinando; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Investigation and modeling of the role of interface defects in the optical degradation of InGaN/GaN LEDs
2024 Roccato, Nicola; Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Santi, Carlo De; Trivellin, Nicola; Haller, Camille; Carlin, Jean-François; Grandjean, Nicolas; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Impact of the oxide aperture width on the degradation of 845 nm VCSELs for silicon photonics
2024 Zenari, Michele; Buffolo, Matteo; Rampazzo, Fabiana; De Santi, Carlo; Rossi, Francesca; Lazzarini, Laura; Goyvaerts, Jeroen; Grabowski, Alexander; Gustavsson, Johan; Baets, Roel; Larsson, Anders; Roelkens, Günther; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Modeling the Electrical Degradation of Micro-Transfer Printed 845 nm VCSILs for Silicon Photonics
2024 Zenari, Michele; Buffolo, Matteo; Santi, Carlo De; Goyvaerts, Jeroen; Grabowski, Alexander; Gustavsson, Johan; Baets, Roel; Larsson, Anders; Roelkens, Günther; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Trapping and Reliability Properties of Al2O3 Gate Dielectrics Obtained with Stacked ALD Deposition
2024 Fregolent, Manuel; Tomasi, Marco; DE SANTI, Carlo; Buffolo, Matteo; Tadmor, Liad; Brusaterra, Enrico; Bahat Treidel, Eldad; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Modeling the optical degradation kinetics of UV-C LEDs
2024 Roccato, N.; Piva, F.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Susilo, N.; Hauer Vidal, D.; Muhin, A.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Trivellin, N.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Robustness and reliability of high-power white LEDs under high-temperature, high-current stress
2024 Caria, Alessandro; Fraccaroli, Riccardo; Pierobon, Giulia; Castellaro, Thomas; Mura, Giovanna; Ricci, Pier Carlo; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Trivellin, Nicola; Zanoni, Enrico; Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo
Physical processes leading to the degradation of UV-C LEDs and their modeling by defect reactions and numerical simulations
2024 De Santi, C.; Buffolo, M.; Piva, F.; Roccato, N.; Trivellin, N.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Ageing effects on optical power characteristics and defects in SQW UV-C LEDs
2024 Piva, F.; Buffolo, M.; Pilati, M.; Roccato, N.; Longato, S.; Susilo, N.; Hauer Vidal, D.; Muhin, A.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Robustness of GaN-based LED against EOS events and ESDs
2024 Buffolo, Matteo; DE SANTI, Carlo; Trivellin, Nicola; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo; Meneghesso, Gaudenzio
Reverse-bias degradation and recovery in semi-transparent FAPbBr3 perovskite solar cells
2024 Tormena, Noah; Caria, Alessandro; Buffolo, Matteo; DE SANTI, Carlo; Trivellin, Nicola; Cester, Andrea; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Matteocci, Fabio; Di Carlo, Aldo; Meneghini, Matteo
Undestanding commercial UVC LEDs reliability to boost disinfection efficacy
2024 Trivellin, Nicola; Piva, Francesco; De Santi, Carlo; Caria, Alessandro; Buffolo, Matteo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Defects, performance, and reliability in UVC LEDs
2024 Meneghini, Matteo; Roccato, Nicola; Piva, Francesco; Pilati, Marco; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Susilo, Norman; Hauer Vidal, David; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Ruschel, Jan; Glaab, Johannes; Rass, Jens; Einfeldt, Sven; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Degradation Physics of UV LEDs: from experimental data to models
2024 Meneghini, Matteo; Roccato, Nicola; Piva, Francesco; Pilati, Marco; DE SANTI, Carlo; Buffolo, Matteo; Susilo, Norman; Hauer Vidal, David; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Ruschel, Jan; Glaab, Johannes; Rass, Jens; Einfeldt, Sven; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Trivellin, Nicola; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Scaling of GaN HEMTs for microwave and millimeter-wave applications: achieving control of short-channel effects, deep levels and reliability
2024 Zanoni, Enrico; Buffolo, Matteo; Carlotto, Andrea; DE PIERI, Francesco; DE SANTI, Carlo; Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo; Rampazzo, Fabiana
Optical Power Degradation Related to Turn-On in Commercial 265 nm UV-C LEDs
2024 Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Pilati, Marco; Roccato, Nicola; Garato, Marco; DE SANTI, Carlo; Trivellin, Nicola; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
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