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Titolo Data di pubblicazione Autori Rivista Serie Titolo libro
A combined µ-Cathodoluminescence and µ-Photoluminescence Investigation of the Degradation of InGaN/GaN Laser Diodes 2013 MENEGHINI, MATTEOCARRARO, SIMONEVACCARI, SIMONETRIVELLIN, NICOLAMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + - - 10th International Conference on Nitride Semiconductors (online abstract)
A comprehensive reliability evaluation of high-performance AlGaN/GaN HEMTs for space applications 2016 DE SANTI, CARLODALCANALE, STEFANOSTOCCO, ANTONIORAMPAZZO, FABIANAGERARDIN, SIMONEMENEGHINI, MATTEOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + - - proc. of the 8th Wide Bandgap Semiconductors and Components Workshop
A comprehensive study of MEMS behavior under EOS/ESD events: Breakdown characterization, dielectric charging, and realistic cures 2011 TAZZOLI, AUGUSTOBARBATO, MARCOMENEGHESSO, GAUDENZIO + JOURNAL OF ELECTROSTATICS - -
A Comprehensive Study of MEMS Behavior under EOS/ESD Events: Breakdown, Dielectric Charging, and Realistic Cures 2010 TAZZOLI, AUGUSTOBARBATO, MARCOMENEGHESSO, GAUDENZIO + - - -
A Discussion of the Susceptibility of a Brokaw Bandgap to EMI 2006 BUSO, SIMONEORIETTI, ENRICOMENEGHESSO, GAUDENZIONEVIANI, ANDREASPIAZZI, GIORGIO + - - Proceedings EMC 2006
A Distributed Electrical Network to Model the Local Shunting in Multicrystalline Silicon Solar Cells 2012 MAGNONE, PAOLOBARBATO, MARCOMENEGHINI, MATTEOGILIBERTO, VALENTINAMENEGHESSO, GAUDENZIO + - - 27th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition, EU PVSEC 2012
A film-forming graphene/diketopyrrolopyrrole covalent hybrid with far-red optical features: Evidence of photo-stability 2019 Zheng M.Lamberti F.Franco L.Collini E.Fortunati I.Bottaro G.Daniel G.Minotto A.Menna E.Silvestrini S.Durante C.Meneghesso G.Maggini M.Gatti T. + SYNTHETIC METALS - -
A Generalized Approach to Determine the Switching Reliability of GaN HEMTs on-Wafer Level 2021 Modolo N.Minetto A.De Santi C.Meneghesso G.Zanoni E.Meneghini M. + - IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM PROCEEDINGS IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings
A model for the thermal degradation of metal/(p-GaN) interface in GaN-based light emitting diodes 2008 MENEGHINI, MATTEOTREVISANELLO, LORENZO ROBERTOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + JOURNAL OF APPLIED PHYSICS - -
A new degradation mechanism induced by DX-center in AlGaAs/InGaAs PM-HEMT's 1994 ZANONI, ENRICOMENEGHESSO, GAUDENZIONEVIANI, ANDREA + - - -
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  • 06 CURATELA::06.01 - Curatela 1
Autore
  • ZANONI, ENRICO 968
  • MENEGHINI, MATTEO 771
  • DE SANTI, CARLO 373
  • BUFFOLO, MATTEO 157
  • TRIVELLIN, NICOLA 147
  • RAMPAZZO, FABIANA 120
  • TAZZOLI, AUGUSTO 96
  • CESTER, ANDREA 72
  • STOCCO, ANTONIO 70
  • BARBATO, MARCO 64
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2024 244
  • 2010 - 2019 623
  • 2000 - 2009 285
  • 1992 - 1999 71
Editore
  • Institute of Electrical and Elect... 83
  • Elsevier Ltd 64
  • SPIE 33
  • IEEE / Institute of Electrical an... 31
  • IEEE 29
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 28
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 21
  • Elsevier 20
  • SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING 18
  • ELSEVIER 17
Rivista
  • MICROELECTRONICS RELIABILITY 149
  • IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEV... 77
  • IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS 35
  • APPLIED PHYSICS LETTERS 29
  • IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND M... 22
  • JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 15
  • PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 10
  • JOURNAL OF PHYSICS D. APPLIED PHY... 9
  • MATERIALS 9
  • IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE 8
Serie
  • PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 32
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 20
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 4
  • PROCEEDINGS OF THE ... INTERNATIO... 1
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 1
  • PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL ... 1
Keyword
  • reliability 274
  • HEMT 257
  • degradation 236
  • Gallium Nitride 221
  • light emitting diodes 92
  • InGaN 91
  • GaN 87
  • Charge Trapping 85
  • Reliability 74
  • Electrical and Electronic Enginee... 64
Lingua
  • eng 1188
  • ita 12
  • jpn 1
Accesso al fulltext
  • no fulltext 1205
  • open 17
  • reserved 1