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Titolo Data di pubblicazione Autori Rivista Serie Titolo libro
A new measurement set-up to investigate the charge trapping phenomena in RF MEMS packaged switches 2013 BARBATO, MARCOGILIBERTO, VALENTINAMENEGHESSO, GAUDENZIO - - 2013 International Conference on Microelectronic Test Structures, ICMTS 2013
A new method for CdSexTe1-x band grading for high efficiency thin-absorber CdTe solar cells 2021 Gasparotto A.Barbato M.Meneghini M.Meneghesso G. + SOLAR ENERGY MATERIALS AND SOLAR CELLS - -
A novel degradation mechanism of AlGaN/GaN/Silicon heterostructures related to the generation of interface traps 2012 MENEGHINI, MATTEOBERTIN, MARCOSTOCCO, ANTONIOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + - - IEDM 2012, IEEE International Electron Devices Meeting
A novel fast and versatile temperature measurement system for LDMOS transistors 2005 TAZZOLI, AUGUSTOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO MICROELECTRONICS RELIABILITY - -
A novel high voltage and high speed measurement system for dynamic RON measurements in GaN‐based high mobility transistors (HEMTs) 2016 BARBATO, ALESSANDROROSSETTO, ISABELLABARBATO, MARCOMENEGHINI, MATTEOZANONI, ENRICOMENEGHESSO, GAUDENZIO - - Proc. of 40th WOCSDICE ‐ Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits held in Europe
A novel in-situ approach to monitor the variations in the on-resistance of power transistors during switching operation 2023 Cavaliere, A.De Santi, C.Meneghesso, G.Zanoni, E.Meneghini, M. MICROELECTRONICS RELIABILITY - -
A novel on-wafer approach to test the stability of GaN-based devices in hard switching conditions: Study of hot-electron effects 2020 Modolo N.Meneghini M.Barbato A.Nardo A.De Santi C.Meneghesso G.Zanoni E. + MICROELECTRONICS RELIABILITY - -
A Novel System to Measure the Dynamic On‑Resistance of On‑Wafer 600 V Normally-Off GaN HEMTs in Real Application Conditions 2017 Alessandro BarbatoM. BarbatoM. MeneghiniM. SilvestriG. MeneghessoE. Zanoni + - - Proceedings of the 41th WOCSDICE - Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits 2017
A novel technique to alleviate the stiction phenomenon in radio frequency microelectromechanical switches 2015 Meneghesso G. + IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS - -
A novel test methodology for RON and VTH monitoring in GaN HEMTs during switch-mode operation 2017 Meneghesso G.Verzellesi G.Chini A. + - - International Reliability Physics Symposium
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Tipologia
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  • 03 LIBRO::03.01 - Monografia o tr... 1
  • 06 CURATELA 1
  • 06 CURATELA::06.01 - Curatela 1
Autore
  • ZANONI, ENRICO 968
  • MENEGHINI, MATTEO 771
  • DE SANTI, CARLO 373
  • BUFFOLO, MATTEO 157
  • TRIVELLIN, NICOLA 147
  • RAMPAZZO, FABIANA 120
  • TAZZOLI, AUGUSTO 96
  • CESTER, ANDREA 72
  • STOCCO, ANTONIO 70
  • BARBATO, MARCO 64
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2024 244
  • 2010 - 2019 623
  • 2000 - 2009 285
  • 1992 - 1999 71
Editore
  • Institute of Electrical and Elect... 83
  • Elsevier Ltd 64
  • SPIE 33
  • IEEE / Institute of Electrical an... 31
  • IEEE 29
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 28
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 21
  • Elsevier 20
  • SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING 18
  • ELSEVIER 17
Rivista
  • MICROELECTRONICS RELIABILITY 149
  • IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEV... 77
  • IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS 35
  • APPLIED PHYSICS LETTERS 29
  • IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND M... 22
  • JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 15
  • PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 10
  • JOURNAL OF PHYSICS D. APPLIED PHY... 9
  • MATERIALS 9
  • IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE 8
Serie
  • PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 32
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 20
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 4
  • PROCEEDINGS OF THE ... INTERNATIO... 1
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 1
  • PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL ... 1
Keyword
  • reliability 274
  • HEMT 257
  • degradation 236
  • Gallium Nitride 221
  • light emitting diodes 92
  • InGaN 91
  • GaN 87
  • Charge Trapping 85
  • Reliability 74
  • Electrical and Electronic Enginee... 64
Lingua
  • eng 1188
  • ita 12
  • jpn 1
Accesso al fulltext
  • no fulltext 1205
  • open 17
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