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Titolo Data di pubblicazione Autori Rivista Serie Titolo libro
A Review on the Reliability of GaN-based Laser Diodes 2010 TRIVELLIN, NICOLAMENEGHINI, MATTEOZANONI, ENRICOMENEGHESSO, GAUDENZIO + - - IRPS2010, International Reliability Physics Symposium
A study of Failure of GaN-based LEDs submitted to reverse-bias stress and ESD events 2010 MENEGHINI, MATTEOTAZZOLI, AUGUSTOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + - - IRPS2010, International Reliability Physics Symposium
A study of trapping phenomena on Recessed-Gate AlGaN/GaN-on- Silicon HEMT 2010 RONCHI, NICOLO'MENEGHINI, MATTEOSTOCCO, ANTONIOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + - - Book of abstract of Hetech 2010
A study on the reverse-bias and ESD instabilities of InGaN-based green LEDs 2010 MENEGHINI, MATTEOTAZZOLI, AUGUSTOTRIVELLIN, NICOLADAL LAGO, MATTEOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + - - Proc. SPIE Vol. 7617, 76170M
A tunable integrated system to simulate colder stellar radiation 2015 Claudi R.Cocola L.Meneghini M.Poletto L.Trivellin N. + - PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Adaptive multi-wavelength LED star simulator for space life studies 2016 TRIVELLIN, NICOLABARBISAN, DIEGOFERRETTI, MARCOERCULIANI, MARCOCLAUDI, RICCARDOCOCOLA, LORENZOPOLETTO, LUCAMENEGHINI, MATTEOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + - - Proc. SPIE 9768, Light-Emitting Diodes: Materials, Devices, and Applications for Solid State Lighting XX
Addressing the electrical degradation of 845 nm micro-transfer printed VCSILs through TCAD simulations 2023 Zenari, M.Buffolo, M.De Santi, C.Meneghesso, G.Zanoni, E.Meneghini, M. + - - Proceedings of 2023 International Conference on Numerical Simulation of Optoelectronic Devices (NUSOD)
Ageing mechanisms of 420nm GaN HBLED 2010 TRIVELLIN, NICOLAMENEGHINI, MATTEOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + - - International Workshop on Nitride Semiconductors - IWN2010
Aging behavior, reliability, and failure physics of GaN-based optoelectronic components 2016 ZANONI, ENRICOMENEGHINI, MATTEOMENEGHESSO, GAUDENZIODE SANTI, CARLOLA GRASSA, MARCOBUFFOLO, MATTEOTRIVELLIN, NICOLAMONTI, DESIREE - - Proc. SPIE 9768, Light-Emitting Diodes: Materials, Devices, and Applications for Solid State Lighting XX
An innovative lighting control system to allow parametric relation with the natural environment 2016 TRIVELLIN, NICOLABARBISAN, DIEGOFERRETTI, MARCOMENEGHINI, MATTEOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + - - Proc. of LED Professional Symposium LpS 2016
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Tipologia
  • 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO 448
  • 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO... 428
  • 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO... 20
Autore
  • MENEGHESSO, GAUDENZIO 429
  • ZANONI, ENRICO 418
  • DE SANTI, CARLO 205
  • TRIVELLIN, NICOLA 94
  • BUFFOLO, MATTEO 84
  • RAMPAZZO, FABIANA 53
  • STOCCO, ANTONIO 41
  • CARIA, ALESSANDRO 32
  • ROSSETTO, ISABELLA 31
  • BISI, DAVIDE 30
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 112
  • 2010 - 2019 286
  • 2004 - 2009 50
Editore
  • Institute of Electrical and Elect... 35
  • SPIE 35
  • SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING 18
  • IEEE 16
  • IEEE Institute of Electrical and ... 4
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 3
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 3
  • IEEE / Institute of Electrical an... 2
  • IEEE Computer Society 2
  • Optica publishing group 2
Rivista
  • PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 10
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 5
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 4
  • AIP CONFERENCE PROCEEDINGS 2
  • IEEE MTT-S INTERNATIONAL MICROWAV... 1
  • PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL ... 1
Serie
  • PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 33
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 19
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 4
  • PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL ... 2
  • PROCEEDINGS OF THE ... INTERNATIO... 1
Keyword
  • degradation 93
  • reliability 90
  • Gallium Nitride 71
  • HEMT 58
  • light emitting diodes 53
  • InGaN 42
  • Electrical and Electronic Enginee... 20
  • Reliability 20
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Accesso al fulltext
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