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NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.
Trapping in Al2O3/GaN MOScaps investigated by fast capacitive techniques
2023 Fregolent, M; Marcuzzi, A; De Santi, C; Treidel, Eb; Meneghesso, G; Zanoni, E; Meneghini, M
Trapping induced parasitic effects in GaN-HEMT for power switching applications
2015 Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo; Zanoni, Enrico; Vanmeerbeek, Piet; Moens, Peter
Trapping processes and band discontinuities in Ga2O3FinFETs investigated by dynamic characterization and optically-assisted measurements
2021 De Santi, C.; Fabris, E.; Caria, A.; Buffolo, M.; Li, W.; Nomoto, K.; Hu, Z.; Jena, D.; Xing, H. G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Trapping processes related to iron and carbon doping in AlGaN/GaN power HEMTs
2015 Meneghini, Matteo; Bisi, Davide; Rossetto, Isabella; DE SANTI, Carlo; Stocco, Antonio; Hilt, O.; Bahat Treidel, E.; Wuerfl, J.; Rampazzo, Fabiana; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
UV LED reliability: degradation mechanisms and challenges
2022 Meneghini, M; Piva, F; De Santi, C; Trivellin, N; Buffolo, M; Roccato, N; Brescancin, R; Grigoletto, M; Fiorimonte, D; Einfeldt, S; Glaab, J; Ruschel, J; Susilo, N; Wernicke, T; Kneissl, M; Meneghesso, G; Zanoni, E
Vertical stack reliability of GaN-on-Si buffers for low-voltage applications
2021 Fabris, E.; Borga, M.; Posthuma, N.; Zhao, M.; De Jaeger, B.; You, S.; Decoutere, S.; Meneghini, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
White light source based on GaN laser diode
2017 Trivellin, N.; Buffolo, M.; Meneghini, M.; Zanoni, E.; Meneghesso, G.
White-light sources based on GaN laser diodes: Analysis and application study
2018 Trivellin, Nicola; Yushchenko, Maksym; Buffolo, Matteo; Meneghini, Matteo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
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