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A novel degradation mechanism of AlGaN/GaN/Silicon heterostructures related to the generation of interface traps
2012 Meneghini, Matteo; Bertin, Marco; G., dal Santo; Stocco, Antonio; A., Chini; D., Marcon; P. E., Malinowski; G., Mura; E., Musu; M., Vanzi; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
A novel fast and versatile temperature measurement system for LDMOS transistors
2005 Tazzoli, Augusto; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
A novel high voltage and high speed measurement system for dynamic RON measurements in GaN‐based high mobility transistors (HEMTs)
2016 Barbato, Alessandro; Rossetto, Isabella; Barbato, Marco; Meneghini, Matteo; Zanoni, Enrico; Meneghesso, Gaudenzio
A novel in-situ approach to monitor the variations in the on-resistance of power transistors during switching operation
2023 Cavaliere, A.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
A novel on-wafer approach to test the stability of GaN-based devices in hard switching conditions: Study of hot-electron effects
2020 Modolo, N.; Meneghini, M.; Barbato, A.; Nardo, A.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Sicre, S.; Prechtl, G.; Curatola, G.
A Novel System to Measure the Dynamic On‑Resistance of On‑Wafer 600 V Normally-Off GaN HEMTs in Real Application Conditions
2017 Barbato, Alessandro; Barbato, M.; Meneghini, M.; Silvestri, M.; Detzel, T.; Haeberlen, O.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
A physical model for the reverse leakage current in (In,Ga)N/GaN light-emitting diodes based on nanowires
2016 Musolino, M.; Van Treeck, D; Tahraoui, A.; Scarparo, L.; DE SANTI, Carlo; Meneghini, Matteo; Zanoni, Enrico; Geelhaar, L.; Riechert, H.
A Physics-Based Approach to Model Hot-Electron Trapping Kinetics in p-GaN HEMTs
2021 Modolo, N.; De Santi, C.; Minetto, A.; Sayadi, L.; Sicre, S.; Prechtl, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
A physics-based, accurate spice model of impact-ionization effects in bipolar transistors
1994 Zanoni, Enrico; A., Dal Fabbro; L., Vendrame; G., Verzellesi; Meneghesso, Gaudenzio; P., Pavan; A., Chantre
A review of failure modes and mechanisms of GaN-based HEMT's
2007 Zanoni, Enrico; Meneghesso, Gaudenzio; G., Verzellesi; Danesin, Francesca; Meneghini, Matteo; Rampazzo, Fabiana; Tazzoli, Augusto; Zanon, Franco
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