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Titolo Data di pubblicazione Autori Rivista Serie Titolo libro
A study of Failure of GaN-based LEDs submitted to reverse-bias stress and ESD events 2010 MENEGHINI, MATTEOTAZZOLI, AUGUSTOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + - - IRPS2010, International Reliability Physics Symposium
A Study of Hot-Electron Degradation Effects in pseudomorphic HEMT’s 1995 MENEGHESSO, GAUDENZIO + - - -
A study of trapping phenomena on Recessed-Gate AlGaN/GaN-on- Silicon HEMT 2010 RONCHI, NICOLO'MENEGHINI, MATTEOSTOCCO, ANTONIOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + - - Book of abstract of Hetech 2010
A study on the reverse-bias and ESD instabilities of InGaN-based green LEDs 2010 MENEGHINI, MATTEOTAZZOLI, AUGUSTOTRIVELLIN, NICOLADAL LAGO, MATTEOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + - - Proc. SPIE Vol. 7617, 76170M
Accelerated aging of GaN light emitting diodes studied by 1/f and RTS noise 2005 MENEGHESSO, GAUDENZIOLEVADA, SIMONEZANONI, ENRICO + - - -
Accelerated testing of RF-MEMS contact degradation through radiation sources 2010 TAZZOLI, AUGUSTOBARBATO, MARCOGILIBERTO, VALENTINAGERARDIN, SIMONENICOLOSI, PIERGIORGIOPACCAGNELLA, ALESSANDROMENEGHESSO, GAUDENZIO + - - IRPS2010, International Reliability Physics Symposium
Active Recovering Mechanism for High Performance RF MEMS Redundancy Switches 2010 TAZZOLI, AUGUSTOMENEGHESSO, GAUDENZIO + - - EuMIC 2010, European Microwave Week
Adaptive multi-wavelength LED star simulator for space life studies 2016 TRIVELLIN, NICOLABARBISAN, DIEGOFERRETTI, MARCOERCULIANI, MARCOCLAUDI, RICCARDOCOCOLA, LORENZOPOLETTO, LUCAMENEGHINI, MATTEOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + - - Proc. SPIE 9768, Light-Emitting Diodes: Materials, Devices, and Applications for Solid State Lighting XX
Addressing the electrical degradation of 845 nm micro-transfer printed VCSILs through TCAD simulations 2023 Zenari, M.Buffolo, M.De Santi, C.Meneghesso, G.Zanoni, E.Meneghini, M. + - - Proceedings of 2023 International Conference on Numerical Simulation of Optoelectronic Devices (NUSOD)
Ageing mechanisms of 420nm GaN HBLED 2010 TRIVELLIN, NICOLAMENEGHINI, MATTEOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + - - International Workshop on Nitride Semiconductors - IWN2010
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Tipologia
  • 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO 696
  • 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO... 671
  • 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO... 25
Autore
  • ZANONI, ENRICO 548
  • MENEGHINI, MATTEO 429
  • DE SANTI, CARLO 196
  • TRIVELLIN, NICOLA 92
  • BUFFOLO, MATTEO 82
  • RAMPAZZO, FABIANA 82
  • TAZZOLI, AUGUSTO 72
  • STOCCO, ANTONIO 51
  • CESTER, ANDREA 40
  • BISI, DAVIDE 32
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 107
  • 2010 - 2019 361
  • 2000 - 2009 185
  • 1992 - 1999 43
Editore
  • Institute of Electrical and Elect... 35
  • SPIE 33
  • IEEE 22
  • SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING 18
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 7
  • IEEE Institute of Electrical and ... 5
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 5
  • IEEE / Institute of Electrical an... 4
  • Gaudenzio Meneghesso 3
  • IEEE Computer Society 2
Rivista
  • PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 10
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 6
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 5
  • AIP CONFERENCE PROCEEDINGS 2
  • PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL ... 1
Serie
  • PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 32
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 20
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 4
  • PROCEEDINGS OF THE ... INTERNATIO... 1
  • PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL ... 1
Keyword
  • reliability 172
  • HEMT 157
  • degradation 153
  • Gallium Nitride 142
  • Charge Trapping 66
  • light emitting diodes 66
  • InGaN 50
  • Electrostatic discharge (ESD) 37
  • MEMS 32
  • Gallium Arsenide 31
Lingua
  • eng 674
  • ita 4
  • jpn 1
Accesso al fulltext
  • no fulltext 695
  • open 1