Sfoglia per Autore
V-Pits and Trench-Like Defects in High Periodicity MQWs GaN-Based Solar Cells: Extensive Electro-Optical Analysis
2024 Nicoletto, Marco; Caria, Alessandro; Rampazzo, Fabiana; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Rossi, Francesca; Huang, Xuanqui; Fu, Houqiang; Chen, Hong; Zhao, Yuji; Gasparotto, Andrea; Becht, Conny; Schwarz, Ulrich T.; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Review and Outlook on GaN and SiC Power Devices: Industrial State-of-the-Art, Applications, and Perspectives
2024 Buffolo, M.; Favero, D.; Marcuzzi, A.; Santi, Carlo De; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Modeling the Electrical Degradation of Micro-Transfer Printed 845 nm VCSILs for Silicon Photonics
2024 Zenari, Michele; Buffolo, Matteo; Santi, Carlo De; Goyvaerts, Jeroen; Grabowski, Alexander; Gustavsson, Johan; Baets, Roel; Larsson, Anders; Roelkens, Günther; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Modeling of the electrical characteristics and degradation mechanisms of UV-C LEDs
2024 Roccato, Nicola; Piva, Francesco; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Susilo, Normal; Vidal, Daniel Hauer; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Wernicke, Tim; Kneissl, Micheal; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
GaN-on-Si Power HEMTs for Automotive: Current Status and Perspectives
2023 Favero, D.; Marcuzzi, A.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Analysis of defect-related optical degradation of VCSILs for photonic integrated circuits
2023 Zenari, M.; Buffolo, M.; Fornasier, M.; De Santi, C.; Goyvaerts, J.; Grabowsky, A.; Gustavsson, J.; Kumari, S.; Stassren, A.; Baets, R.; Larsson, A.; Roelkens, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Dynamical properties and performances of ß-Ga2O3 UVC photodetectors of extreme solar blindness
2023 Dame, L.; Conan, L.; De Santi, C.; Caria, A.; Buffolo, M.; Meneghini, M.; Maso, P.; Dias, C.; Ghorbel, H.; Gilbert, P.; Meftah, M.; Bove, P.; Sandana, V.; Rogers, D.; Teherani, F.
Improving the Reliability of InAs Quantum-Dot Laser Diodes for Silicon Photonics: the Role of Trapping Layers and Misfit-Dislocation Density
2023 Buffolo, M.; Zenari, M.; De Santi, C.; Shang, C.; Hughes, E.; Wan, Y.; Bowers, J. E.; Herrick, R. W.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Optoelectronic technologies for lighting in automotive: state of the art and perspectives
2023 Trivellin, Nicola; Buffolo, Matteo; DE SANTI, Carlo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Degradation mechanisms of laser diodes for silicon photonics applications
2023 De Santi, C.; Buffolo, M.; Zenari, M.; Shang, C.; Bowers, J. E.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Modeling of the Optical and Electrical Degradation of 845 nm VCSILs
2023 Buffolo, M.; Zenari, M.; Fornasier, M.; De Santi, C.; Goyvaerts, J.; Grabowski, A.; Gustavsson, J.; Kumari, S.; Stassen, A.; Morthier, Geert; Baets, R.; Larsson, A.; Roelkens, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Strategies for Enhancing the Photovoltaic Conversion Efficiency in Sb2Se3-based Solar Cells
2023 Rampino, Stefano; Spaggiari, Giulia; Jakomin, Roberto; Gilioli, Edmondo; Mezzadri, Francesco; Meneghini, Matteo; Barrantes, JESSICA JAZMINE NICOLE; Mazzer, Massimo; DE SANTI, Carlo; Pattini, Francesco
Novel models for the analysis of the dynamic performance of wide bandgap devices
2023 DE SANTI, Carlo; Fregolent, Manuel; Modolo, Nicola; Buffolo, Matteo; Rampazzo, Fabiana; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Lifetime Prediction of Current-and Temperature-Induced Degradation in Silicone-Encapsulated 365 nm High-Power Light-Emitting Diodes
2023 Herzog, A; Benkner, S; Zandi, B; Buffolo, M; Van Driel, Wd; Meneghini, M; Khanh, Tq
Influence of V-Pits on the Turn-On Voltage of GaN-Based High Periodicity Multiple Quantum Well Solar Cells
2023 Nicoletto, M; Caria, A; Rampazzo, F; De Santi, C; Buffolo, M; Mura, G; Rossi, F; Huang, Xq; Fu, Hq; Chen, H; Zhao, Yj; Meneghesso, G; Zanoni, E; Meneghini, M
Addressing the electrical degradation of 845 nm micro-transfer printed VCSILs through TCAD simulations
2023 Zenari, M.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Goyvaerts, J.; Grabowski, A.; Gustavsson, J.; Baets, R.; Larsson, A.; Roelkens, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Addressing the Optical Degradation of 1.3 μm Quantum Dot Lasers through Subthreshold Characterization
2023 Zenari, Michele; Buffolo, Matteo; De Santi, Carlo; Norman, Justin; Hughes, Eamonn T.; Bowers, John E.; Herrick, Robert; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Impact of Mg-doping on the performance and degradation of AlGaN-based UV-C LEDs
2023 Piva, F.; Grigoletto, M.; Brescancin, R.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Ruschel, J.; Glaab, J.; Hauer Vidal, D.; Guttmann, M.; Rass, J.; Einfeldt, S.; Susilo, N.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Modeling the electrical degradation of AlGaN-based UV-C LEDs by combined deep-level optical spectroscopy and TCAD simulations
2023 Roccato, N.; Piva, F.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Fregolent, M.; Pilati, M.; Susilo, N.; Vidal, D. H.; Muhin, A.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Bias-dependent degradation of single quantum well on InGaN-based light emitting diode
2023 Casu, C.; Buffolo, M.; Caria, A.; Piva, F.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Legenda icone
- file ad accesso aperto
- file disponibili sulla rete interna
- file disponibili agli utenti autorizzati
- file disponibili solo agli amministratori
- file sotto embargo
- nessun file disponibile