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Titolo Data di pubblicazione Autori Rivista Serie Titolo libro
A novel degradation mechanism of AlGaN/GaN/Silicon heterostructures related to the generation of interface traps 2012 MENEGHINI, MATTEOBERTIN, MARCOSTOCCO, ANTONIOMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + - - IEDM 2012, IEEE International Electron Devices Meeting
A novel high voltage and high speed measurement system for dynamic RON measurements in GaN‐based high mobility transistors (HEMTs) 2016 BARBATO, ALESSANDROROSSETTO, ISABELLABARBATO, MARCOMENEGHINI, MATTEOZANONI, ENRICOMENEGHESSO, GAUDENZIO - - Proc. of 40th WOCSDICE ‐ Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits held in Europe
A Novel System to Measure the Dynamic On‑Resistance of On‑Wafer 600 V Normally-Off GaN HEMTs in Real Application Conditions 2017 Alessandro BarbatoM. BarbatoM. MeneghiniM. SilvestriG. MeneghessoE. Zanoni + - - Proceedings of the 41th WOCSDICE - Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits 2017
A novel test methodology for RON and VTH monitoring in GaN HEMTs during switch-mode operation 2017 Meneghesso G.Verzellesi G.Chini A. + - - International Reliability Physics Symposium
A physics-based, accurate spice model of impact-ionization effects in bipolar transistors 1994 ZANONI, ENRICOMENEGHESSO, GAUDENZIO + - - -
A Positive Exploitation of ESD Events: Micro-welding Induction on Ohmic MEMS Contacts 2011 TAZZOLI, AUGUSTOMENEGHESSO, GAUDENZIO + - - 33rd Annual EOS/ESD Symposium, EOSESD2011
A review of failure modes and mechanisms of GaN-based HEMT's 2007 ZANONI, ENRICOMENEGHESSO, GAUDENZIODANESIN, FRANCESCAMENEGHINI, MATTEORAMPAZZO, FABIANATAZZOLI, AUGUSTOZANON, FRANCO + - - -
A Review of SiC Commercial Devices for Automotive: Properties and Challenges 2023 Alberto MarcuzziDavide FaveroCarlo De SantiGaudenzio MeneghessoEnrico ZanoniMatteo Meneghini - - Proceedings of the 7th AEIT International Conference of Electrical and Electronic Technologies for Automotive (AEIT AUTOMOTIVE 2023)
A Review of the Main Results Presented at the 49th Workshop on Compound Semiconductor Materials And Devices 2013 MENEGHESSO, GAUDENZIO + - - 37th Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits held in Europe (WOCSDICE 2013)
A Review on the Reliability of GaN-based Laser Diodes 2010 TRIVELLIN, NICOLAMENEGHINI, MATTEOZANONI, ENRICOMENEGHESSO, GAUDENZIO + - - IRPS2010, International Reliability Physics Symposium
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Tipologia
  • 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO 696
  • 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO... 671
  • 04 CONTRIBUTO IN ATTO DI CONVEGNO... 25
Autore
  • ZANONI, ENRICO 548
  • MENEGHINI, MATTEO 429
  • DE SANTI, CARLO 196
  • TRIVELLIN, NICOLA 92
  • BUFFOLO, MATTEO 82
  • RAMPAZZO, FABIANA 82
  • TAZZOLI, AUGUSTO 72
  • STOCCO, ANTONIO 51
  • CESTER, ANDREA 40
  • BISI, DAVIDE 32
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 107
  • 2010 - 2019 361
  • 2000 - 2009 185
  • 1992 - 1999 43
Editore
  • Institute of Electrical and Elect... 35
  • SPIE 33
  • IEEE 22
  • SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING 18
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 7
  • IEEE Institute of Electrical and ... 5
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 5
  • IEEE / Institute of Electrical an... 4
  • Gaudenzio Meneghesso 3
  • IEEE Computer Society 2
Rivista
  • PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 10
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 6
  • PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID... 5
  • AIP CONFERENCE PROCEEDINGS 2
  • PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL ... 1
Serie
  • PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 32
  • IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PH... 20
  • TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ... 4
  • PROCEEDINGS OF THE ... INTERNATIO... 1
  • PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL ... 1
Keyword
  • reliability 172
  • HEMT 157
  • degradation 153
  • Gallium Nitride 142
  • Charge Trapping 66
  • light emitting diodes 66
  • InGaN 50
  • Electrostatic discharge (ESD) 37
  • MEMS 32
  • Gallium Arsenide 31
Lingua
  • eng 674
  • ita 4
  • jpn 1
Accesso al fulltext
  • no fulltext 695
  • open 1