Sfoglia per Autore
Optoelectronic technologies for lighting in automotive: state of the art and perspectives
2023 Trivellin, Nicola; Buffolo, Matteo; DE SANTI, Carlo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Dynamical properties and performances of ß-Ga2O3 UVC photodetectors of extreme solar blindness
2023 Dame, L.; Conan, L.; De Santi, C.; Caria, A.; Buffolo, M.; Meneghini, M.; Maso, P.; Dias, C.; Ghorbel, H.; Gilbert, P.; Meftah, M.; Bove, P.; Sandana, V.; Rogers, D.; Teherani, F.
Analysis of Current Transport Layer Localized Resistivity Increase After High Stress on InGaN LEDs
2023 Trivellin, Nicola; Buffolo, Matteo; De Santi, Carlo; Zanoni, Enrico; Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo
InGaN/GaN Multiple Quantum Wells solar cells: a trade-off in p-GaN thickness, to optimize reliability and quantum efficiency
2023 Nicoletto, Marco; Caria, Alessandro; DE SANTI, Carlo; Buffolo, Matteo; Huang, Xuanqui; Fu, Houqiang; Chen, Hong; Zhao, Yuji; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Analysis of defect-related optical degradation of VCSILs for photonic integrated circuits
2023 Zenari, M.; Buffolo, M.; Fornasier, M.; De Santi, C.; Goyvaerts, J.; Grabowsky, A.; Gustavsson, J.; Kumari, S.; Stassren, A.; Baets, R.; Larsson, A.; Roelkens, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Lifetime limiting degradation mechanisms of state-of-the-art UVC LEDs
2023 Zanoni, Enrico; Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Trivellin, Nicola; DE SANTI, Carlo; Roccato, Nicola; Pilati, Marco; Susilo, Norman; Hauer Vidal, David; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo
Analysis of trapping and detrapping mechanisms in 0.15 μm-gate AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistors: explanation of dynamic behaviour of threshold voltage and on-resistance
2023 DE PIERI, Francesco; Fornasier, Mirko; Gao, Zhan; Rampazzo, Fabiana; DE SANTI, Carlo; Meneghini, Matteo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
On the degradation mechanisms of state-of-the-art UV-C LEDs
2023 Buffolo, Matteo; Piva, Francesco; Roccato, Nicola; DE SANTI, Carlo; Trivellin, Nicola; Pilati, Marco; Susilo, Norman; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Transconductance overshoot as a signature of trapping effects at backbarrier interface of GaN HEMTs : dependence on device epitaxial structure
2023 Gao, Zhan; Fornasier, Mirko; DE PIERI, Francesco; DE SANTI, Carlo; Rampazzo, Fabiana; Meneghini, Matteo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Physics-based trap analysis and compact modeling performance evaluation of AlGaN/GaN HEMTs
2023 DE SANTI, Carlo; Modolo, Nicola; Baratella, Giulio; Borga, Matteo; Posthuma, Niels; Bakeroot, Benoit; Decoutere, Stefaan; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Threshold voltage variation of SiC trench MOSFETs during TDDB stress
2023 Avramenko, Marina; Marcuzzi, Alberto; De Schepper, Luc; Cano, Jean-Francois; Geenen, Filip; DE SANTI, Carlo; Moens, Peter; Meneghini, Matteo
Reliability investigation on 265 nm UV-C LEDs from a commercial point of view
2023 Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; DE SANTI, Carlo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo; Trivellin, Nicola
GaN Vertical Devices: challenges for high performance and stability
2023 Meneghini, Matteo; Fregolent, Manuel; Zagni, Nicolò; DE SANTI, Carlo; Bahat Treidel, Eldad; Brusaterra, Enrico; Brunner, Frank; Hilt, Oliver; Christianhuber, ; Buffolo, Matteo; Marcuzzi, Alberto; Favero, Davide; Del Fiol, Andrea; Verzellesi, Giovanni; Pavan, Paolo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Threshold Voltage Instability in SiC MOSFETs: Analysis and Modeling
2023 Meneghini, M.; Marcuzzi, A.; Masin, F.; De Santi, C.; Avramenko, M.; Geenen, F.; Moens, P.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
Degradation of GaN-Based Multiple Quantum Wells Solar Cells Under Forward Bias: Investigation Based on Optical Measurements and Steady-State Photocapacitance
2023 Caria, A; De Santi, C; Buffolo, M; Nicoletto, M; Huang, Xq; Fu, Hq; Chen, H; Zhao, Yj; Meneghesso, G; Zanoni, E; Meneghini, M
III-N optoelectronic devices: understanding the physics of electro-optical degradation
2023 Meneghini, Matteo; Roccato, Nicola; Piva, Francesco; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Haller, Camille; Carlin, Jean-Francois; Grandjean, Nicolas; Tibaldi, Alberto; Bertazzi, Francesco; Goano, Michele; Verzellesi, Giovanni; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Addressing the Optical Degradation of 1.3 μm Quantum Dot Lasers through Subthreshold Characterization
2023 Zenari, Michele; Buffolo, Matteo; De Santi, Carlo; Norman, Justin; Hughes, Eamonn T.; Bowers, John E.; Herrick, Robert; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Modeling the electrical degradation of AlGaN-based UV-C LEDs by combined deep-level optical spectroscopy and TCAD simulations
2023 Roccato, N.; Piva, F.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Fregolent, M.; Pilati, M.; Susilo, N.; Vidal, D. H.; Muhin, A.; Sulmoni, L.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Degradation Processes and Aging in Quantum Dot Lasers on Silicon
2023 Meneghini, Matteo; Buffolo, Matteo; Zenari, Michele; DE SANTI, Carlo; Herrick, Robert W.; Shang, Chen; Wan, Yating; Feng, Kaiyin; Hughes, Eamonn; Bowers, John; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Addressing the electrical degradation of 845 nm micro-transfer printed VCSILs through TCAD simulations
2023 Zenari, M.; Buffolo, M.; De Santi, C.; Goyvaerts, J.; Grabowski, A.; Gustavsson, J.; Baets, R.; Larsson, A.; Roelkens, G.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Legenda icone
- file ad accesso aperto
- file disponibili sulla rete interna
- file disponibili agli utenti autorizzati
- file disponibili solo agli amministratori
- file sotto embargo
- nessun file disponibile