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Modeling of the electrical characteristics and degradation mechanisms of UV-C LEDs
2024 Roccato, Nicola; Piva, Francesco; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Susilo, Normal; Vidal, Daniel Hauer; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Wernicke, Tim; Kneissl, Micheal; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
V-Pits and Trench-Like Defects in High Periodicity MQWs GaN-Based Solar Cells: Extensive Electro-Optical Analysis
2024 Nicoletto, Marco; Caria, Alessandro; Rampazzo, Fabiana; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Rossi, Francesca; Huang, Xuanqui; Fu, Houqiang; Chen, Hong; Zhao, Yuji; Gasparotto, Andrea; Becht, Conny; Schwarz, Ulrich T.; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Review and Outlook on GaN and SiC Power Devices: Industrial State-of-the-Art, Applications, and Perspectives
2024 Buffolo, M.; Favero, D.; Marcuzzi, A.; Santi, Carlo De; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Modeling the Electrical Degradation of Micro-Transfer Printed 845 nm VCSILs for Silicon Photonics
2024 Zenari, Michele; Buffolo, Matteo; Santi, Carlo De; Goyvaerts, Jeroen; Grabowski, Alexander; Gustavsson, Johan; Baets, Roel; Larsson, Anders; Roelkens, Günther; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Origin and Recovery of Negative Vth Shift on 4H-SiC MOS Capacitors: an Analysis Based on Inverse Laplace Transform and Temperature-Dependent Measurements
2023 Marcuzzi, Alberto; Avramenko, Marina; DE SANTI, Carlo; Geenen, Filip; Moens, Peter; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
A Review of SiC Commercial Devices for Automotive: Properties and Challenges
2023 Marcuzzi, Alberto; Favero, Davide; DE SANTI, Carlo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
GaN-Based Lateral and Vertical Devices
2023 Meneghini, M.; Chowdhury, S.; Derluyn, J.; Medjdoub, F.; Ji, D.; Chun, J.; Kabouche, R.; De Santi, C.; Zanoni, E.; Meneghesso, G.
Scaling of E-mode power GaN-HEMTs for low voltage/low Ron applications: Implications on robustness
2023 Benato, Andrea; De Santi, Carlo; Borga, Matteo; Bakeroot, Benoit; Filipek, Izabela Kuzma; Posthuma, Niels; Decoutere, Stefaan; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Characterization and C-DLTS analysis of antimony selenide solar cells
2023 Barrantes, JESSICA JAZMINE NICOLE; DE SANTI, Carlo; Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Caria, Alessandro; Trivellin, Nicola; Rampino, Stefano; Spaggiari, Giulia; Jakomin, Roberto; Pattini, Francesco; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Semi-Transparent Perovskite Solar Cells: Performance and Perspectives
2023 Tormena, Noah; Barrantes, JESSICA JAZMINE NICOLE; Caria, Alessandro; Buffolo, Matteo; DE SANTI, Carlo; Trivellin, Nicola; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Cester, Andrea; Meneghini, Matteo; Matteocci, Fabio; Di Carlo, Aldo
GaN-based InGaN/GaN MQWs solar cells for innovative applications: performance and modeling
2023 Nicoletto, Marco; Caria, Alessandro; DE SANTI, Carlo; Buffolo, Matteo; Huang, Xuanqui; Fu, Houqiang; Chen, Hong; Zhao, Yuji; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Thermally-activated failure mechanisms of 0.25 μm RF AlGaN/GaN HEMTs submitted to long-term life tests
2023 Gao, Z; Chiocchetta, F; Rampazzo, F; De Santi, C; Fornasier, M; Meneghesso, G; Meneghini, M; Zanoni, E
Impact of high-temperature operating lifetime tests on the stability of 0.15 μm AlGaN/GaN HEMTs: a temperature-dependent analysis
2023 Pilati, M.; Buffolo, M.; Rampazzo, F.; Lambert, B.; Sommer, D.; Grünenpütt, J.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
III-N optoelectronic devices: understanding the physics of electro-optical degradation
2023 Meneghini, Matteo; Roccato, Nicola; Piva, Francesco; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Haller, Camille; Carlin, Jean-Francois; Grandjean, Nicolas; Tibaldi, Alberto; Bertazzi, Francesco; Goano, Michele; Verzellesi, Giovanni; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Trapping in Al2O3/GaN MOScaps investigated by fast capacitive techniques
2023 Fregolent, M; Marcuzzi, A; De Santi, C; Treidel, Eb; Meneghesso, G; Zanoni, E; Meneghini, M
High-Temperature PBTI in Trench-Gate Vertical GaN Power MOSFETs: Role of Border and Semiconductor Traps
2023 Favero, D; Cavaliere, A; De Santi, C; Borga, M; Goncalez, W; Geens, K; Bakeroot, B; Decoutere, S; Meneghesso, G; Zanoni, E; Meneghini, M
Degradation Processes and Aging in Quantum Dot Lasers on Silicon
2023 Meneghini, Matteo; Buffolo, Matteo; Zenari, Michele; DE SANTI, Carlo; Herrick, Robert W.; Shang, Chen; Wan, Yating; Feng, Kaiyin; Hughes, Eamonn; Bowers, John; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Understanding the Optical Degradation of 845 nm Micro-Transfer-Printed VCSILs for Photonic Integrated Circuits
2023 Zenari, M; Buffolo, M; Fornasier, M; De Santi, C; Goyvaerts, J; Grabowski, A; Gustavsson, J; Kumari, S; Stassren, A; Baets, R; Larsson, A; Roelkens, G; Meneghesso, G; Zanoni, E; Meneghini, M
Gate leakage modeling in lateral β-Ga2O3 MOSFETs with Al2O3 gate dielectric
2023 Fregolent, Manuel; Brusaterra, Enrico; De Santi, Carlo; Tetzner, Kornelius; Würfl, Joachim; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
A novel in-situ approach to monitor the variations in the on-resistance of power transistors during switching operation
2023 Cavaliere, A.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
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