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Understanding the Optical Degradation of 845 nm Micro-Transfer-Printed VCSILs for Photonic Integrated Circuits
2023 Zenari, M; Buffolo, M; Fornasier, M; De Santi, C; Goyvaerts, J; Grabowski, A; Gustavsson, J; Kumari, S; Stassren, A; Baets, R; Larsson, A; Roelkens, G; Meneghesso, G; Zanoni, E; Meneghini, M
Dynamic Behavior of Threshold Voltage and ID–VDS Kink in AlGaN/GaN HEMTs Due to Poole–Frenkel Effect
2023 Gao, Zhan; De Santi, Carlo; Rampazzo, Fabiana; Saro, Marco; Fornasier, Mirko; Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo; Chini, Alessandro; Verzellesi, Giovanni; Zanoni, Enrico
Transconductance Overshoot, a New Trap-Related Effect in AlGaN/GaN HEMTs
2023 Gao, Z.; Rampazzo, F; De Santi, C; Fornasier, M; Meneghesso, G; Meneghini, M; Blanck, H; Grunenputt, J; Sommer, D; Chen, Dy; Wen, Kh; Chen, Jt; Zanoni, E
Scaling of E-mode power GaN-HEMTs for low voltage/low Ron applications: Implications on robustness
2023 Benato, Andrea; De Santi, Carlo; Borga, Matteo; Bakeroot, Benoit; Filipek, Izabela Kuzma; Posthuma, Niels; Decoutere, Stefaan; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Gate leakage modeling in lateral β-Ga2O3 MOSFETs with Al2O3 gate dielectric
2023 Fregolent, Manuel; Brusaterra, Enrico; De Santi, Carlo; Tetzner, Kornelius; Würfl, Joachim; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Performance and Degradation of Commercial Ultraviolet-C Light-Emitting Diodes for Disinfection Purposes
2023 Trivellin, N; Piva, F; Fiorimonte, D; Buffolo, M; De Santi, C; Zanoni, E; Meneghesso, G; Meneghini, M
How the selenium distribution in CdTe affects the carrier properties of CdSeTe/CdTe solar cells
2023 Artegiani, E; Gasparotto, A; Meneghini, M; Meneghesso, G; Romeo, A
A novel in-situ approach to monitor the variations in the on-resistance of power transistors during switching operation
2023 Cavaliere, A.; De Santi, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Threshold voltage instability in SiO2-gate semi-vertical GaN trench MOSFETs grown on silicon substrate
2023 Fregolent, M.; Del Fiol, A.; De Santi, C.; Huber, C.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Mechanisms of Step-Stress Degradation In Carbon-Doped 0.15 μm Algan/Gan Hemts for Power RF Applications
2023 Zagni, Nicolò; Gao, Veronica Zhan; Verzellesi, Giovanni; Chini, Alessandro; Pantellini, Alessio; Natali, Marco; Lucibello, Andrea; Latessa, Luca; Lanzieri, Claudio; Santi, Carlo De; Meneghini, Matteo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Degradation of GaN-based InGaN-GaN MQWs solar cells caused by Thermally-Activated Diffusion
2023 Nicoletto, M.; Caria, A.; De Santi, C.; Buffolo, M.; Huang, X.; Fu, H.; Chen, H.; Zhao, Y.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Analysis of Current Transport Layer Localized Resistivity Increase After High Stress on InGaN LEDs
2023 Trivellin, Nicola; Buffolo, Matteo; De Santi, Carlo; Zanoni, Enrico; Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo
InGaN/GaN Multiple Quantum Wells solar cells: a trade-off in p-GaN thickness, to optimize reliability and quantum efficiency
2023 Nicoletto, Marco; Caria, Alessandro; DE SANTI, Carlo; Buffolo, Matteo; Huang, Xuanqui; Fu, Houqiang; Chen, Hong; Zhao, Yuji; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Lifetime limiting degradation mechanisms of state-of-the-art UVC LEDs
2023 Zanoni, Enrico; Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; Trivellin, Nicola; DE SANTI, Carlo; Roccato, Nicola; Pilati, Marco; Susilo, Norman; Hauer Vidal, David; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Meneghesso, Gaudenzio; Meneghini, Matteo
Analysis of trapping and detrapping mechanisms in 0.15 μm-gate AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistors: explanation of dynamic behaviour of threshold voltage and on-resistance
2023 DE PIERI, Francesco; Fornasier, Mirko; Gao, Zhan; Rampazzo, Fabiana; DE SANTI, Carlo; Meneghini, Matteo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
On the degradation mechanisms of state-of-the-art UV-C LEDs
2023 Buffolo, Matteo; Piva, Francesco; Roccato, Nicola; DE SANTI, Carlo; Trivellin, Nicola; Pilati, Marco; Susilo, Norman; Muhin, Anton; Sulmoni, Luca; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Transconductance overshoot as a signature of trapping effects at backbarrier interface of GaN HEMTs : dependence on device epitaxial structure
2023 Gao, Zhan; Fornasier, Mirko; DE PIERI, Francesco; DE SANTI, Carlo; Rampazzo, Fabiana; Meneghini, Matteo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico
Physics-based trap analysis and compact modeling performance evaluation of AlGaN/GaN HEMTs
2023 DE SANTI, Carlo; Modolo, Nicola; Baratella, Giulio; Borga, Matteo; Posthuma, Niels; Bakeroot, Benoit; Decoutere, Stefaan; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Threshold voltage variation of SiC trench MOSFETs during TDDB stress
2023 Avramenko, Marina; Marcuzzi, Alberto; De Schepper, Luc; Cano, Jean-Francois; Geenen, Filip; DE SANTI, Carlo; Moens, Peter; Meneghini, Matteo
Reliability investigation on 265 nm UV-C LEDs from a commercial point of view
2023 Piva, Francesco; Buffolo, Matteo; DE SANTI, Carlo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo; Trivellin, Nicola
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